PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  automated measurements
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
System komputerowy do pomiaru zmian rezystancji warstw C-Pd zachodzących pod wpływem wodoru i metanu
Krawczyk S.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2015
|
Vol. 56, nr 11
97-99
PL
Przedmiotem pracy jest wielokanałowy zautomatyzowany system pomiarowy dedykowany do pomiarów zmian rezystancji warstw C-Pd pod wpływem wodoru i metanu. System ten został opracowany i wykonany w Instytucie Tele- i Radiotechnicznym podczas realizacji projektu numer UDA-POIG.01.03.01-14-071/08-11. Zastosowanie systemu pomiarowego umożliwia gromadzenie analizę danych poprzez PC komputera danych oraz automatyzację pomiarów.
EN
The subject of the paper is the multi-channel automated measurement system dedicated to measurements of changes in C-Pd films resistance under the influence of hydrogen and methane. This system was developed and manufactured at Tele and Radio Research Institute during realization of (UDA-POIG.01.03.01-14-071/08-11) project. Application of this system enables the data acquisition and analysis with PC as well as it enables measurements automatization.
2
Environment for automated low-temperature measurements of electronic circuits
Balik F., Sommer W.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2011
|
Vol. 52, nr 3
84-89
EN
The aim of this work was to develop an environment which allows us to perform automated measurements of electronic circuits and elements characterization in low-temperature conditions. For instance, the characteristics of transistor or integrated amplifiers, or thick-film or thin-film elements parameters can be automatically measured by using this system in wide cryogenic temperature range. The low temperatures are achieved using nitrogen-helium continuous-flow cryostat K115. Depending on the freezing liquid, minimal temperature achieved might be 4.2K for helium and 77.35K for nitrogen. The system consists of a part used for controlling the freezing process and a part used for performing measurements. Both parts are controlled from the host computer using the NI Labview software and communicating with the equipment utilising the GPIB interface. Range ot the used equipment allowed us to develop a various virtual instruments in order to perform required measurements in wide thermal range with high accuracy. In this work the fundamental problems, which have to be solved during building such system, have been described. Moreover, the algorithms improving a performance of the whole system working in noise and distortion circumstances (i.e. stabilizing the amplitude in the function of frequency, noise/distortion cancelation and optimal temperature regulation and the zero crossing point determination) were developed. Some examples of the measurements of electronic circuits in low temperatures have been also included.
PL
W pracy omówiono środowisko pomiarowe opracowane dla automatycznych pomiarów układów i elementów elektronicznych w zakresie niskich temperatur. Opracowany system pozwala w sposób zautomatyzowany mierzyć np. charakterystyki wzmacniaczy tranzystorowych lub zintegrowanych a także parametry struktur grubo- lub cienkowarstwowych w szerokim zakresie temperatur kriogenicznych. W systemie zastosowano kriostathelowy/azotowy, przepływowy, typ K115. W zależności od zastosowanego chłodziwa osiągnąć można w nim następujące najniższe temperatury: dla helu 4.2K dla azotu 77.35K. System pomiarowy składa się z części kontrolującej proces chłodzenia oraz z części służącej do przeprowadzania pomiarów. Obie części są sterowane z komputera typu PC przy użyciu oprogramowania typu NI LabWiew oraz komunikują się z poprzez interface typu GPIB. Zastosowane w systemie urządzenia pozwalają tworzyć różne wirtualne przyrządy w zależności od potrzeb pomiarowych. W niniejszej pracy zostały omówione podstawowe problemy, z jakimi może spotkać się inżynier konstruujący podobny system pomiarowy. Ponadto, w systemie opracowano szereg algorytmów usprawniających jego działanie w warunkach szumów i zakłóceń. Niektóre z nich takie, jak np. stabilizacja amplitudy sygnału, optymalna regulacja temperatury, redukcja szumów i identyfikacja punktu przejścia sygnału przez zero zostały zwięźle opisane. Załączono również przykłady pomiarów układów elektronicznych w zakresie temperatur kriogenicznych.
3
Content available Strategia automatyzacji pomiarów na stereogramach cyfrowych z zastosowaniem metod korelacyjnych
Zieliński J. M.
Archiwum Fotogrametrii, Kartografii i Teledetekcji
|
1998
|
Vol. 8
10-1--10-11
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.