Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 6

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  atomic force microscope (AFM)
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
Purpose: The aim of this paper was to investigate changes in surface morphology and optoelectronic properties of MEH-PPV thin films. Thin films were prepared using spin coating method. Design/methodology/approach: The changes in surface topography was observed by the atomic force microscope AFM. The results of thin films roughness have been prepared in the software XEI. The UV/VIS spectrometer was used to investigate absorbance of the obtained thin films. Findings: Results and their analysis allow to conclude that the solvent, which is an important factor in spin coating technology has an influence on surface morphology and optoelectronic properties of MEH-PPV thin films. Practical implications: Known MEH-PPV optoeletronic properties and the possibility of obtaining a uniform thin film show that it can be a good material for optoelectronic and photovoltaic application. Originality/value: The paper presents some researches of MEH-PPV thin films deposited by spin coating method deposition on glass BK7. A MEH-PPV solution was prepared using three different solvents: chlorobenzene, chloroform and pyridine.
PL
Prezentowana praca przedstawia wyniki badań stanu powierzchni stali X39Cr13 z gatunku stali stopowych odpornych na korozję stosowanych na narzędzia chirurgiczne. Badaną stal poddano obróbce cieplnej (hartowanie + odpuszczanie) oraz powierzchniowej (azotowanie jarzeniowe). Po zastosowanych obróbkach powierzchnię próbek analizowano za pomocą mikroskopu sił atomowych (AFM).Przeprowadzone badania pozwoliły na ocenę wpływu różnych wariantów obróbek na stan powierzchni poprzez parametr chropowatości.
XX
The paper presents results of surface condition examinations of X39Cr13 steel from the group of corrosion-resisting alloy steels used for surgical instruments. The tested steel was subject to heat (quenching + tempering) and surface (plasma nitriding) treatment. After the treatments applied the specimens surface was analysed by means of atomic forces microscope (AFM).The examinations carried out allowed evaluating the effect of various treatments’ variants on the surface condition through the roughness.
3
Content available remote Nanotribologia
PL
W artykule przedstawiono cechy charakterystyczne systemów nanotribologicznych (w odróżnieniu od systemów makrotribologicznych). Omówiono techniki badawcze i urządzenia do badań nanotribologicznych. Zaprezentowano też podstawowe testy nanotribologiczne wraz z przykładami wyników badań. Przedstawiono także obszary badań nanotribologicznych i aktualne tendencje rozwojowe. Podane przykłady wykorzystania wyników badań nanotribologicznych.
EN
This paper presents the characteristic features of nanotribological systems (as a contrast to macrotribological systems). Experimental techniques and test devices for nanotribological studies are described. The principal nanotribological tests, together with the examples of results are discussed. The areas of nanotribological research are reviewed showing the actual trends. Some examples of the application of the results of nanotribological studies are given.
4
Content available remote AFM examination of sol-gel matrices doped with photosensitizers
EN
Various compounds may be entrapped into the sol-gel materials, including the photosensitive agents. The nanostructure of the final material depends on the matrix itself, as well as on the structural properties of doped compound. In this work, sol-gel matrices were produced from silica based precursor tetraethoxysilan (TEOS) in the form of single layers deposited on microscopic glasses. Materials were produced with molar ratios R = 20, 32, 40 (R - the number of solvent (ethanol) moles to the number of precursor (TEOS) moles). Additionally, for each material two various concentrations of photosensitizers were prepared (0.5 mg/ml and 0.05 mg/ml). On the basis of AFM images from Atomic Force Microscope Quesant 350, the following roughness parameters were evaluated: roughness average, peak-peak height, surface skewness and fractal dimension. The roughness average Sa parameter gives information about the statistical average properties. The peak-peak height Sy is defined as the height difference between the highest and the lowest pixel in the image. The surface skewness Ssk describes the asymmetry of the height distribution histogram. The fractal dimension Sfd is calculated for the different angles by analyzing the Fourier amplitude spectrum. Comparing the results we stated that average roughness increases with increasing R factor for protoporphyrine IX dimethylester (PPIX) (dimethyl-8, 13-divinyl-3, 7, 12, 17-tetramethyl-21H, 23H-porphine-2, 18-dipropionate) and photolon (18-carboxy-20-(carboxymethyl)-8-ethenyl-13-ethyl-2, 3-dihydro-3, 7, 12, 17-tetramethyl-21H, 23H-porphin-2-propionic acid) in higher concentrations. This means that photosensitizers used as dopants influence the smoothness of sol-gel matrix. We also noticed that the smallest roughness is observed in the material doped with PPIX in higher concentration. This was stated for all the images analyzed. This indicates that sol-gel matrix enclosures the PPIX molecules, resulting in smooth material.
PL
Praca dotyczy wpływu stereometrycznych parametrów powierzchni zmierzonych w nanoskali, na charakterystyki tribologiczne smarowanych skojarzeń polimerowo-ceramicznych. Tribologiczne badania skojarzeń materiałowych w ruchu posuwisto--zwrotnym przeprowadzono na stanowisku badawczym typu trzpień--płytka (tester T-17). Badaniom poddano płytki wykonane z ceramiki o różnej zawartości ZrO2 i AI2O3 i różnej chropowatości, skojarzone z przeciwpróbką wykonaną z wielkocząsteczkowego polietylenu (UHMWPE). Wykonano pomiary współczynnika tarcia oraz intensywności zużywania materiałów w środowisku płynu Ringera. Do pomiarów stereometrycznych parametrów chropowatości powierzchni próbek ceramicznych wykorzystano mikroskop sił atomowych (AFM). Przeprowadzone badania wskazały, że w skojarzeniach ceramika--polimer, pracujących w ruchu posuwisto-zwrotnym, dla elementów ceramicznych o bardzo małej chropowatości powierzchni, wraz z jej zmniejszaniem, rośnie współczynnik tarcia oraz wzrasta zużycie elementu polimerowego. Prawdopodobną tego przyczyną jest brak możliwości wytworzenia odpowiednio grubej warstwy polimerowego filmu smarującego.
EN
The influence of the roughness parameters measured in nanoscale on tribological characteristics of lubricated ceramic-polymer friction couple has been presented. The tribological investigation of materials in reciprocating motion were performed by means of the T-17 pin-on-flat tribotester developed in and produced by the Institute for Sustainable Technologies, Radom, Poland. The ceramic plates with various roughness parameters and containing different concentration of ZrO2 and AI2O3 rubbing against the commercial polymer specimen were tested. The friction and wear characteristics in presence of Ringer solution were measured. Atomic force microscope (AFM) was utilised for measuring of 3D surface parameters. It has been shown, that in the case of ceramic-polymer friction joints working under reciprocating motion, the correlation between friction coefficient as well as wear and roughness exists. The friction coefficient and wear rate were lower for higher values of roughness parameters of ceramic plate. The probable cause of such a correlation is decreasing of lubricating polymer layer thickness between ceramic and polymer material.
6
Content available remote Podstawy mikroskopii sił atomowych w badaniach polimerów
PL
Przedstawiono ogólny zakres zastosowań i możliwości badawczych mikroskopu sił atomowych (AFM). Omówiono konstrukcję jego podstawowych podzespołów (dźwignia i ostrze pomiarowe, układ pomiaru ugięcia dźwigni, skaner, system sprzężenia zwrotnego, komputerowy generator obrazu). Opisano rodzaje oddziaływań (van der Waalsa, elektrostatyczne, magnetyczne, kapilarne i siły odpychania krótkiego zasięgu) oraz sposoby ich badania za pomocą tego mikroskopu. Dokonano analizy podstawowych i zespolonych systemów pracy AFM, wskazując na ich najistotniejsze zastosowania. Scharakteryzowano ograniczenia badawcze i główne źródła błędów (drgania zewnętrzne, zmiana wymiarów elementów konstrukcyjnych pod wpływem zmian temperatury) w pomiarach za pomocą AFM.
EN
A general scope of applications and research possibilities is presented for the atomic force microscope (AFM). Construction of fundamental subassemblies, viz., lever and measuring edge, lever deflection measuring system, scanner, feedback system, computerized image generator, is described. Interaction types (van der Waals, electrostatic, magnetic, capillary and short-range repulsion forces) are presented and methods of their AFM studies are presented. The major and combined AFM operation systems are described and major applications emphasized. Research limitations and major error sources are indicated (external vibrations, temperature dilatation or shrinkage of construction details).
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.