Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: analytical technique

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Spektroskopia Ramana w zakresie niskich częstotliwości w badaniach materiałów wybuchowych

Liszewska Malwina, Bartosewicz Bartosz, Budner Bogusław, Szala Mateusz, Miczuga Marcin, Kopczyński Krzysztof, Jankiewicz Bartłomiej J.

Przemysł Chemiczny

2020

T. 99, nr 10

1469--1476

Spektroskopia Ramana stała się w ostatnich latach jedną z ważniejszych technik analitycznych znajdujących zastosowanie w różnych sektorach gospodarki. Wynika to z braku konieczności preparowania próbek do badań, krótkiego czasu pomiaru oraz łatwej identyfikacji badanych substancji na podstawie charakterystycznych widm ramanowskich. W rejestrowanym widmie nieelastycznie rozproszonego światła można wyróżnić zakres 200–4000 cm-1, który odzwierciedla strukturę chemiczną cząsteczki (widmo oscylacyjno-rotacyjne), tzw. odcisk palca, oraz zakres 5–200 cm-1, zwany zakresem niskich częstotliwości, który dostarcza informacji o drganiach sieci krystalicznej w ciele stałym (widmo fononowe). Przedstawiono podstawowe informacje dotyczące spektroskopii Ramana w zakresie niskich częstotliwości, jej możliwości pomiarowych i aplikacyjnych oraz dokonano przeglądu literatury na temat zastosowania tej techniki w badaniach materiałów wybuchowych.

Fundamentals and review with 68 refs.

Nanocrystalline hexagonal shaped CdS thin films for photoconducting application

Patil S. M., Pawar P.H.

International Letters of Chemistry, Physics and Astronomy

2014

Vol. 17, iss. 2

153--167

Nanocrystalline thin films of cadmium sulphide were prepared by chemical bath deposition technique onto glass substrate at 60 °C. The deposition parameters were optimized to obtain good quality of nanocrystalline thin films such as, time, precursor concentration, temperature of deposition and pH of the solution. The studies on crystal structure, composition, surface morphology, electrical conductivity and photoconductivity of the films were carried out by using different analytical technique. Characterization includes X-ray diffraction (XRD), Field emission scanning electron microscopy (FE-SEM), Energy dispersive X-ray analysis (EDAX), Electrical and photoconductivity. The response and recovery time of the thin film were measured and presented.

Zjawisko absorpcji promieniowania jako podstawa techniki analitycznej

Kozak. L., Niedzielski P.

LAB Laboratoria, Aparatura, Badania

2008

R. 13, nr 5

6-8

Przygotowanie próbek przy użyciu kwasów w otwartych i zamkniętych systemach do roztwarzania

Kahr E.

Analityka : nauka i praktyka

2007

nr 3

12-16