Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Investigations of HaH 286 eucrite by analytical electron microscopy

Szurgot M., Polański K.

Meteorites

|

2011

|

Vol. 1, No. 1

29-38

EN

The elemental composition, mineral composition and microstructure of the HaH 286 eucrite found in Lybia in 2000 were studied by analytical electron microscopy. It was established that the mean elemental composition of HaH 286 and atomic and molar ratios: Fe/Mn = 34, Mg/Mg+Fe = 36, Na/Al = 0.066, and Ca/Al = 0.73 are typical of eucrites, and two main meteorite minerals have the mean composition: clinopyroxene En34Fs59Wo7 and plagioclase feldspar An88Ab12. Variations in the composition of pyroxenes and plagioclases are as follows: pyroxene En34-36Fs53-62Wo3-13 and plagioclase: An86-100Ab14-0. Pyroxene is represented by pigeonite and by orthopyroxene. Chromite, ilmenite and silica are minor minerals. The composition, atomic ratios and microstructure indicate that the HaH 286 meteorite is a pyroxene-plagioclase basaltic achondrite, a non-cumulate eucrite with the composition of plagioclase changing between anorthite and bytownite.

2

Atomic transport measured by analytical electron microscopy technique

Zięba P.

Archives of Metallurgy and Materials

|

2004

|

Vol. 49, iss. 2

385-395

EN

Most of the changes in the structure occurs by thermally activated mass and charge transport through the matter, called diffusion. The most important information concerning the rate controlling factor can be determined from the solute partitioning, which accompanies the changes in the microstructure. In many cases, the solute redistribution occurs within a narrow area of nanometer order. Such highly localised changes in chemistry can be detected using an analytical electron microscopy (AEM). The present paper reviews the capabilities of AEM showing the following examples: diffusion couples and precipitation of grain boundary allotriomorphs (determination of intediffusion coefficient), discontinuous precipitation (determination of grain boundary diffusivity), austenite to intragranular ferrite and bainitic transformation (determination of transformation mechanism).

PL

Większość zmian strukturalnych następuje w wyniku termicznie aktywowanego transportu masy lub ładunki nazywanego dyfuzją. Najważniejszą informację dotyczacą czynnika kontrolującego szybkość dyfuzji można uzyskać z rozkładu dodatku drugiego pierwiastka wynikającego ze zmian w mikrostrukturze. W wielu przypadkach rozkład drugiego pierwiastka ma miejsce w bardzo wąskim zakresie ograniczonym często do kilku nanometrów. te subtelne zmiany w składzie chemicznym można jedynie analizować przy zastosowaniu analitycznej mikroskopii elektronowej (AEM). W pracy przedstawiono syntetyczne ujęcie aktualnych możliwości AEM na przykładzie: - złączy dyfuzyjnych oraz tworzenia wydzieleń aliotriomorficznych na granicach ziaren, - wydzielania nieciągłego, - przemiany austenitu w ferryt oraz przemiany bainitycznej.

3

Rola analitycznej mikroskopii elektronowej w badaniach nowoczesnych materiałów.

Zięba P.

Inżynieria Materiałowa

|

2002

|

R. XXIII, nr 5

650-657

PL

W pracy przedstawiono potencjał i możliwości analitycznej mikroskopii elektronowej jako techniki badawczej pozwalającej na określenie zmian składu chemicznego w obszarach rzędu kilku nanometrów. Dokonano szczególnej analizy spektroskopii promieniowania X z dyspersją energii (EDX) zwracając szczególną uwagę na znaczenie maksymalnej zdolności rozdzielczej poprzecznej, związku pomiędzy geometrią próbki, padającą wiązką elektronów i położeniem detektora EDX, granicy wykrywalności oraz problemu dekonwolucji (rozplatania) sygnału generowanego z próbki i gromadzonego przez detektor EDX. Potencjał i możliwości techniki EDX pokazano na podstawie przykładów analiz wykonanych dla określenia redystrybucji pierwiastków w złączach elektronicznych, w warstwie powierzchniowej stopów na bazie Ti po przetopieniu laserowym w atmosferze azotu oraz struktur wielowarstwowych MoSi stosowanych w rentgenografii.

EN

Potential and capabilities of the analytical electron microscopy as a technique of determination of the chemical composition variation in the areas as small as several nanometers are described. Both methods of the chemical signal aquisition are considered, namely through an energy electron loss spectroscopy and an energy dispersive X-ray (EDX) spectroscopy. However, the emphasis is placed on the EDX as the most widely used technique. The spatial resolution, relation between sample geometry, incident electron beam and location of the EDX detector, detectability limit and deconvolution procedures are discussed as parameters which have strong impact on the quality of the chemical analysis. Potential and capabilities of the EDX technique are shown at the examples of chemical analyses performed in order to estimate the elements distribution in electronic contacts, surface layer of Ti-based alloys laser remelted at nitrogen environment and MoSi multilayers used in X-ray diffraction.

4

Charakterystyka azotowanych warstw powierzchniowych na stopie Ti-1Al-1Mn.

Czyrska-Filemonowicz A., Moskalewicz T., Łucki M., Biel M., Spiradek-Hahn K., Wierzchoń T.

Inżynieria Materiałowa

|

2002

|

R. XXIII, nr 4

173-181

PL

Materiałem do badań był stop Ti-1Al-1Mn w stanie dostawy oraz po azotowaniu w warunkach wyładowania jarzeniowego. Posługując się metodami analitycznej mikroskopii elektronowej (AEM) wyznaczono udział objętościowy faz alfa i beta w stopie w stanie dostawy oraz określono ich skład chemiczny. Przeprowadzono szczegółową charakterystykę mikrostruktury warstw powierzchniowych. Oszacowano grubości poszczególnych warstw. Wykorzystując analizę dyfrakcji elektronów wykonano jakościową analizę faz. Badania przy użyciu TEM na cienkich foliach z przkrojów poprzecznych próbek ujawniły nanokrystaliczną budowę warstw powierzchniowych. Wykonano pomiary chropowatości powierzchni przy użyciu profilometru oraz badania topografii warstw powierzchniowych za pomocą mikroskopu sił atomowych (SFM). Przeprowadzono pomiary właściwości mechanicznych (mikrotwardość, moduł Younga) stopu Ti-1Al-1Mn oraz warstw powierzchniowych. Za pomocą metody scratch-test określono stopień przylegania warstw do podłoża. Stwierdzono występowanie wyraźnej korelacji pomiędzy temperaturą wytwarzania warstw powierzchniowych a ich mikrostrukturą, topografią powierzchni oraz właściwościami mechanicznymi.

EN

The investigation was carried out on the Ti-1Al-1Mn alloy, as received material as well as after nitriding process in glow discharge conditions. Using analytical electron microscopy (AEM) methods, the mean volume fraction of alpha and beta phases in the as received alloy as well as chemical composition was estimated. Detail microstructural characterisation of surface layers was performed. The thicknesses of particular layers were estimated. Phase identification within the layers, was carried out by electron diffraction. The investigation of cross-sectional thin foils using TEM, showed that the nitrided layers were consisted of nanocrystallites. The roughness of the surface layers using profilometer and the topography of the surface layers were investigated by means of atomic force microscope (SFM). The mechanical properties of the Ti-1Al-Mn alloy and of the surface layers (microhardness and Young's modulus) measurements as well as the scratch test were performed. The investigation revealed a distinct correlation between temperature of the nitriding process and a microstructure, surface topography and mechanical properties of the surface layers.

5

Mikrowiązkowe metody badań materiałów.

Żelechower M.

Inżynieria Materiałowa

|

2001

|

R. XXII, nr 6

1033-1035

PL

Metody badawcze materiałów wykorzystujące wiązki korpuskularne lub wiązki promieniowania elektromagnetycznego o mikronowych i submikronowych średnicach znajdują coraz szersze zastosowanie w obliczu wymogów stawianych przez współczesne technologie. W artykule omówiono trendy w rozwoju aparatury badawczej wykorzystującej mikrowiązki, a służącej do badania struktur o wymiarach nanometrycznych. Podano skrótowe charakterystyki takich metod, jak transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM), analityczna mikroskopia elektronowa (AEM), skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM), mikroanaliza rentgenowska (EPMA), spektroskopia masowa jonów wtórnych wzbudzanych zogniskowaną wiązką jonową (FIB-SIMS). Intencją było stworzenie krótkiego przewodnika ułatwiającego wybór odpowiedniej metody badawczej w zależności od cech studiowanego materiału.

EN

Recently in materials studies the methods employing microbeams (both particle and radiation beams) become widely applied with respect to the high requirements expected by modern nanotechnology. Current trends in the development of microbeam instrumentation for nanostructures studies were presented in the paper. Several methods have been briefly reviewed: transmission electron microscopy (TEM), analytical electron microscopy (AEM), scanning electron microscopy (SEM), electron probe microanalysis (EPMA), focused ion beam secondary ion mass spectroscopy (FIB-SIMS). The paper in the author's intention should be understood as a short guide which facilitates selection of an appropriate research method suited to features of studied material.

6

Analytical electron microscopy of the gamma' and gamma phases in a nickel-base superalloy

Hodor K., Zięba P., Olszowska-Sobieraj B.

Inżynieria Materiałowa

|

2001

|

R. XXII, nr 4

380-383

EN

The morphology and chemistry in investment structural cast Ni-base superalloy have been investigated by means of analytical electron microscopy. This allowed to determine the partition of alloying elements between gamma' and gamma phases as well as at the gamma'/gamma interfaces for the two types of gamma' precipitates. The obtained results are discussed in the frame of possible solidification paths for this alloy.

PL

Zaprezentowano charakterystykę strukturalną i chemiczną nadstopu na osnowie niklu uzyskanego bezpośrednio w procesie odlewania. Zastosowanie techniki analitycznej mikroskopii elektronowej pozwoliło określić rozkład powierzchniowy poszczególnych pierwiastków w fazach gamma i gamma'. Analizę wykonano dla dwóch typów wydzieleń fazy gamma'. Przeprowadzone badania mogą być przyczynkiem do dyskusji na temat rodzaju ścieżki krystalizacji dla badanego nadstopu.

7

Charakterystyka zjawiska segregacji na granicach międzyfazowych przy użyciu analitycznej mikroskopii elektronowej.

Zięba P.

Inżynieria Materiałowa

|

2000

|

R. XXI, nr 1

7-17

PL

W pracy przedstawiono potencjał i możliwości badawcze techniki analitycznej mikroskopii elektronowej (AEM) w odniesieniu do określenia wielkości i zakresu segregacji pierwiastków na granicach międzyfazowych. Analizie poddano przydatność obu sposobów uzyskania informacji o zmianie składu chemicznego, a mianowicie na podstawie spektrometrii strat energii elektronów oraz spektroskopii promieniowania X z dyspersją energii (EDX). W dalszej części skoncentrowano się na technice EDX dokonując oceny wpływu poszczególnych parametrów instrumentalnych i materiałowych na wynik analizy, określając wielkości maksymalnej zdolności rozdzielczej poprzecznej. Wewnętrzne ograniczenia EDX powodują, że w przypadku segregacji równowagowej niezbędne jest zastosowanie metod rozplatania (dekonwolucji), aby uzyskać rzeczywistą wartość segregacji pierwiastka na granicy międzyfazowej. Potencjał i możliwości techniki EDX pokazano na podstawie przykładów analiz segregacji związanej z następującymi zjawiskami na granicach ziaren: tworzeniem się tzw. strefy gorącej w stali austenitycznej, z uwrażliwieniem stali bezwęglowej stosowanej w przemyśle nuklearnym, powstawaniem strefy wolnej od wydzieleń w stopach metali nieżelaznych. Ponadto pokazano na przykładzie przemiany nieciągłej, austenit-ferryt, bainitycznej, że uzyskanie informacji o sposobie redystrybucji drugiego składnika na froncie tych przemian pozwala zidentyfikować czynnik rządzący mechanizmem i kinetyką. Wreszcie udokumentowane zostało zastosowanie techniki analitycznej mikroskopii elektronowej do wyznaczenia wartości współczynników dyfuzji objętościowej w materiałach i temperaturach, gdzie metoda atomów znaczonych nie dała oczekiwanych efektów, a także do znalezienia położenia charakterystycznych linii dla układów równowagi fazowej. W powiązaniu z AEM przedstawione zostały dwie komplementarne techniki badawcze: spektroskopia elektronów Augera oraz spektroskopia masowa jonów pierwotnych. Zwłaszcza ta ostatnia stanowi znakomite narzędzie do oceny stopnia segregacji na granicach międzyfazowych, co zostało zobrazowane odpowiednimi przykładami.

EN

The paper reviews the potential and capabilities of the analytical electron microscopy (AEM) for the study of the magnitude and extent of the intefacial segregation. At the beginning, the principles of both methods of the chemical analysis associated with AEM were presented, that is energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX) and electron energy loss spectroscopy. Further consideration was focused on the technique of the EDX showing influence of the instrumental and material parameters on the maximum spatial resolution. The limitation of the EDX technique requires in the case of the equilibrium segregation, the use of the deconvolution procedures in order to obtain true solute concentration from that which was measured during EDX analysis. The capabilities of the EDX were shown based on the following examples: heat-affected zone cracking of austenitic Fe-Ni-Cr steel, sensitization of the Fe-Cr-Ni-Mo stainless steel, formation of the precipitate free zone in nonferrous alloys. Additionally, the information on the redistribution of the solute atoms at the reaction front of the discontinuous precipitation, austenit-ferrite transition, bainitic transformation allows to determine the factor governing the mechanism and kinetics of those phase transformations. The application of AEM for the determination of the volume diffusion coefficient and for the location of tie lines on the equilibrium phase diagrams was also documented. Other techniques like Auger spectroscopy, and atom probe field ion microscopy were briefly presented as useful and complementary in the interfacial chemistry analysis.