Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2016

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: analysis of face geometry

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Facial landmarks localization using binary pattern analysis

Ochocki M., Sawicki D.

Przegląd Elektrotechniczny

2016

R. 92, nr 11

43--46

In the paper an algorithm for localization of the facial landmarks is presented. A preliminary analysis in the form of identifying regions of interest has been used. In this analysis each region corresponds to a different color space. The accuracy of the algorithm was verified using the Stimuli database of face images. The proposed algorithm can locate basic 21 landmarks with a very good average accuracy of 95.62%. This result ranks it among the best algorithms published between 2005 and 2015.

W artykule przedstawiono algorytm lokalizacji punktów charakterystycznych twarzy. Zastosowano wstępną analizę w postaci wyodrębnienia obszarów zainteresowań. Przy czym dla różnych obszarów wykorzystano różne przestrzenie barw. Dokładność algorytmu zweryfikowano wykorzystując bazę Stimuli zdjęć twarzy. Opracowany algorytm pozwala lokalizować 21 podstawowych punktów z bardzo dobrą średnią skutecznością na poziomie 95.62%. Wynik ten plasuje zaproponowany algorytm wśród najlepszych rozwiązań opublikowanych w latach 2005-2015.