Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: analogue integrated circuits

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Evolutionary algorithms for global parametric fault diagnosis in analogue integrated circuits

Jantos P., Grzechca D., Rutkowski J.

Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences

2012

Vol. 60, nr 1

133-142

An evolutionary method for analogue integrated circuits diagnosis is presented in this paper. The method allows for global parametric faults localization at the prototype stage of life of an analogue integrated circuit. The presented method is based on the circuit under test response base and the advanced features classification. A classifier is built with the use of evolutionary algorithms, such as differential evolution and gene expression programming. As the proposed diagnosis method might be applied at the production phase there is a method for shortening the diagnosis time suggested. An evolutionary approach has been verified with the use of several exemplary circuits – an oscillator, a band-pass filter and two operational amplifiers. A comparison of the presented algorithm and two classical methods – the linear classifier and the nearest neighborhood method – proves that the heuristic approach allows for acquiring significantly better results.

Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych

Jantos P., Grzechca D., Golonek T., Rutkowski J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 11

122-125

W artykule przedstawiono analizę wpływu globalnych uszkodzeń parametrycznych na odpowiedź analogowych układów scalonych (AIC) w dziedzinie czasu. Nowością jest wykorzystanie relacji oraz super-relacji pomiędzy wcześniej wspomnianymi cechami odpowiedzi układów. Przedstawiona metoda powinna pozwolić na zwiększenie testowalności oraz diagnozowalności globalnych uszkodzeń parametrycznych (GPF) w produkcji analogowych i hybrydowych układów scalonych. Wpływ GPF na wspomniane cechy odpowiedzi AIC został przedstawiony z wykorzystaniem przykładu obliczeniowego. Prezentowane badania stanowią wstęp do przygotowania systemu diagnostycznego AIC sterowanego uszkodzeniami (Fault Driven Test - FDT) z symulacją przedtestową (Simulation Before Test - SBT).

This paper presents an analysis of an influence of global parametric faults on analogue integrated circuits (AIC) time domain response features. A novelty is the analysis of relations and superrelations between aformentioned features. Presented method should increase testability and diagnosability of the global parametric faults (GPF) on a production line of analogue and mixed electronic circuits. GPF influence on abovementioned features is presented with the use of an exemplary ciruit. A research presented in this paper may be used as an introduction to a Fault Driven Test diagnosis of AIC with the Simulation Before Test.