Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Evolutionary optimization of Sigma-Delta modulated analog stimulus

Golonek T.

International Journal of Microelectronics and Computer Science

|

2015

|

Vol. 6, nr 4

130--135

EN

This paper proposes the evolutionary technique of the stimulus signal optimization for the analog electronic circuit testing purpose. The obtained signal is coded with Sigma-Delta modulation usage that allows to generate it easily by simple microcontrollers without the necessity of expensive D/A peripherals applying. The signal with the controlled impulses density may be obtained on the external output terminal of the typical timer and finally, it defines the analog signal that can be reconstructed after low pass filtering.

2

A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space

Jantos P., Golonek T., Rutkowski J.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2011

|

R. 87, nr 10

110-113

EN

This paper presents a method for specification driven testing of analogue electronic circuits. The method is based on utilisation of tested circuit response features to a test stimulus. Delaunay’s triangulation is employed for the purpose of finding tested circuit specifications values in spaces defined with response features. Specification maps are used for the purpose of estimating the tested circuits performance quality. A neural network classifier has been utilised to make a decision whether the circuit is fully functional.

PL

W artykule przedstawiono metodę sterowanego specyfikacją testowania analogowych układów elektronicznych. Opracowana metoda bazuje na wykorzystaniu cech odpowiedzi układu na wymuszenie testujące. W przestrzeniach zdefiniowanych przez wartości poszczególnych cech odpowiedzi testowanego układu oraz kolejne specyfikacje, znajdowana jest aproksymacja dystrybucji wartości specyfikacji z wykorzystaniem triangulacji Delaunay’a. Tak przygotowane „mapy” działania układu stosowane są do estymacji wartości specyfikacji, a następnie, za pomocą klasyfikatora neuronowego, do stwierdzenia, czy układ testowany jest sprawny.

3

Metody symulacji i diagnostyki analogowych układów elektronicznych

Hałgas S.

Zeszyty Naukowe. Rozprawy Naukowe / Politechnika Łódzka

|

2009

|

Z. 379

3-145

PL

W niniejszej monografii rozpatrzono dwa istotne zagadnienia z zakresu testowania analogowych układów elektronicznych. Przedstawiono trzy nowe metody analizy różnych klas układów nieliniowych, które mogą być wykorzystane w procedurach wspomagających proces diagnostyczny oraz zaproponowano dwie oryginalne metody lokalizacji i identyfikacji wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych. W rozdziale pierwszym omówiono aktualny stan wiedzy z zakresu szeroko pojętej diagnostyki układów analogowych, wskazano na najważniejsze nurty badawcze oraz istniejące problemy. W rozdziale drugim, po krótkim wprowadzeniu do zagadnienia szybkiej symulacji obwodów mających zastosowanie w testowaniu, omówiono trzy oryginalne metody w tym zakresie. Pierwsza z nich pozwala w sposób bardzo efektywny wyznaczać rozwiązania stałoprądowe w nieliniowych układach z tranzystorami bipolarnymi w oparciu o idee homotopii oraz algorytm Newtona-Raphsona. Diody występujące w układzie opisano stosując aproksymacje Padego funkcji wykładniczej, wprowadzając jednocześnie do powstałych zależności dyskretny parametr homotopijny. Druga z metod wykorzystuje symulator analizy dynamicznej programu SPICE do wyznaczania charakterystyk parametrycznych w układach stałoprądowych i stanowi alternatywę dla stosowanej standardowo w tym celu analizy DC Sweep programu SPICE, gdzie charakterystyki takie mogą być wyznaczane, ale ze stałym krokiem zmiany wartości rozważanego parametru. Zastosowanie procedur zaimplementowanych w analizie czasowej pozwala obliczać charakterystyki parametryczne ze zmienną długością kroku, co jest znacznie bardziej efektywne i niezawodne. Ostatnia z przedstawionych metod symulacji dotyczy skutecznego przeprowadzania analizy numerycznej w dziedzinie czasu. W tym celu zaproponowano rodzinę liniowych metod dwukrokowych będących kombinacją liniową powszechnie wykorzystywanych w analizie czasowej układów analogowych algorytmów Adamsa-Moultona II rzędu i Geara II rzędu oraz pokazano, że taka kombinacja pozwala zredukować lub uniknąć wad każdej z metod stosowanej oddzielnie. Rozdział trzeci poświęcono zagadnieniom lokalizacji i identyfikacji wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych. W pierwszej jego części przedstawiono główne nurty światowych badań w zakresie diagnostyki pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych. Następnie omówiono dwie oryginalne metody diagnostyczne. Pierwsza z nich należy do grupy metod weryfikacyjnych i umożliwia realizację procesu diagnostycznego w liniowych układach stałoprądowych i zmiennoprądowych. Uszkodzenia mogą być też wykrywane, w aspekcie analizy małosygnałowej, w układach nieliniowych, przy założeniu, że przyrządy półprzewodnikowe oraz elementy określające ich punkt pracy są nieuszkodzone lub rzeczywiste wartości parametrów tych elementów zostały wyznaczone przy wykorzystaniu innych metod. W ostatniej części tego rozdziału zaproponowano metodę słownikową pozwalającą identyfikować uszkodzenia parametryczne w układach nieliniowych. Do budowy słownika wykorzystano uogólnioną aproksymacje odcinkowo-liniową charakterystyk parametrycznych otrzymanych na drodze analizy stałoprądowej lub czasowej. Wszystkie zaprezentowane metody zaimplementowano i przetestowano na zbiorze układów elektronicznych zawierających wzmacniacze operacyjne i tranzystory bipolarne. Niektóre z omawianych w pracy metod mogą być też stosowane dla układów z tranzystorami polowymi. Wyniki eksperymentów numerycznych potwierdziły skuteczność rozważanych metod i algorytmów oraz pokazały, że prowadzą one do usprawnienia procesu testowania układów analogowych.

EN

The fundamental problems of testing of analogue electronic circuits are considered in this work. Three methods for the analysis of different classes of nonlinear circuits, which improve the fault diagnosis, are discussed. Two other methods for fault location and identification of multiple soft faults are presented. In the first chapter the state of the art in analogue fault diagnosis is presented, the general problems of automatic testing and the main research areas are indicated. In the second chapter, after the short introduction to the problem of fast fault circuit simulation, three methods in this field are developed. The first method enables us to find efficiently the DC solutions of nonlinear circuits including bipolar transistors. It is based on the homotopy idea and the Newton-Raphson method. All the diodes are described using the Fade approximation formula and the homotopy parameter is introduced inside this formula. The second method uses the transient analysis of SPICE to trace parametric characteristics in DC circuits. It is an alternative approach to the DC Sweep analysis of SPICE, which is able to compute these characteristics, but it uses an inefficient brute-force method with a fixed size of step. The transient analysis employs refined methods, computation techniques and controlling mechanisms, making possible automatic choice and changing the step size during the computation process, so the approach is reliable and more efficient. The last method deals with the transient analysis of nonlinear dynamic circuits by means of numerical integration methods. A new family of two-step second order numerical integration algorithms is developed being a linear combination of the trapezoidal rule and the second-order backward differentiation formula. The proposed method reduces or overcomes the main drawback of the mentioned methods acting alone. The third chapter is devoted to the problem of the location and identification of multiple parametric faults. In the first part the main techniques in the area of the single and multiple soft fault diagnosis are presented. Next two new methods for multiple soft faults are considered. The first one belongs to the verification methods and enables us to identify faults in analogue AC or DC circuits. Although it pertains to linear circuits, some aspects of multiple fault diagnosis of nonlinear circuits can be also performed using the small signal approach. In the next part of the chapter the fault dictionary method is presented. It enables us to identify multiple faults in nonlinear circuits. The dictionary is generated on the basis of the families of parametric characteristics (in DC or time domain), which are described by means of section-wise piecewise-linear functions. All the presented methods have been implemented and tested using several representative examples of practical electronic circuits including operational amplifiers and bipolar transistors. The results of numerical examples show, that they are efficient and improve the testing of analogue circuits.

4

Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych

Rutkowski J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2004

|

Vol. 45, nr 12

33-37

PL

W artykule omówiono podstawy podejścia słownikowego do diagnostyki analogowych układów elektronicznych zwracając szczególną uwagę na zastosowania metod sztucznej inteligencji.

EN

Basic concepts of analog fault diagnosis by means of the Simulation Before Test (SBT) approach, the so called dictionary approach, have been presented. Special attention has been paid to application of artificial intelligence tools, such as: neural networks, fuzzy sets and evolutionary computing.

5

Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów

Czaja Z.

Diagnostyka

|

2004

|

Vol. 30, T. 1

119--122

PL

W artykule przedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy i algorytm wyznaczania szerokości pasa lokalizacyjnego. W drugim etapie omówiono algorytm detekcji i lokalizacji uszkodzeń.

EN

In the paper a new approach of fault detection and localisation of analog electronic circuits taking into consideration tolerances of elements is described. It consists of two stages. In the first stage a fault dictionary consisting of description of an ellipse, which approximates a nominal area representing a fault-free circuit, and coefficients defining widths of localisation bells are created. A new algorithm of generation of the ellipse and the algorithm of determination of the width of localisation bell are presented. In the second stage the algorithm of fault detection and localisation is described.

6

Systemy kontroli aparatów telefonicznych

Zając J.

Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki

|

2001

|

nr 146

244-248