PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  analog-digital conversion
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote A study of the metrological properties of a two-channel sampling module for an AC standard resistor calibration system
Rybski R., Kaczmarek J., Kozioł M.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2013
|
R. 89, nr 1a
78--80
EN
The paper presents the concept of a measurement system for the calibration of AC standard resistors with low resistance values and the selected research results of a commercial sampling module constituting a key element of the system which is being developed. Among others there is presented the results of a 24-hour stability study of the analog-to-digital processing paths of a sampling module.
PL
Przedstawiono koncepcję systemu pomiarowego do wzorcowania rezystorów wzorcowych prądu przemiennego o małych wartościach rezystancji oraz wybrane wyniki badań komercyjnego modułu próbkującego stanowiącego podstawowy element opracowywanego systemu. Między innymi przedstawiono wyniki badań 24-godzinnej stabilności torów przetwarzania analogowo-cyfrowego modułu próbkującego.
2
Content available The Impact of Noise and Mismatch on SAR ADCs and a Calibratable Capacitance Array Based Approach for High Resolutions
Mueller J. H., Strache S., Busch L., Wunderlich R., Heinen S.
International Journal of Electronics and Telecommunications
|
2013
|
Vol. 59, No. 2
161-167
EN
This paper describes widely used capacitor structures for charge-redistribution (CR) successive approximation register (SAR) based analog-to-digital converters (ADCs) and analyzes their linearity limitations due to kT/C noise, mismatch and parasitics. Results of mathematical considerations and statistical simulations are presented which show that most widespread dimensioning rules are overcritical. For high-resolution CR SAR ADCs in current CMOS technologies, matching of the capacitors, influenced by local mismatch and parasitics, is a limiting factor. For high-resolution medium-speed CR SAR ADCs, a novel capacitance array based approach using in-field calibration is proposed. This architecture promises a high resolution with small unit capacitances and without expensive factory calibration as laser trimming.
3
Content available remote Particularities of the cyclic A/D converters ENOB definition and measurement
Platonov A. A., Małkiewicz Ł. M.
Metrology and Measurement Systems
|
2008
|
Vol. 15, nr 1
9-22
EN
The paper is devoted to the methods of accurate assessment and analysis of the expected and actual effective number of bits (ENOB) of cyclic analog-to-digital converters. The equivalence of definition of ENOB in the IEEE Standard 1241-2000 and proposed in earlier author's works analytical definition formulated on the basis of distributions of the input signal and conversion errors. Indirect and direct methods of ENOB measurement are considered. The presented results can be used for a development of accurate methods of performance analysis and testing of the cyclic and other ADCs.
4
Content available remote Analog-to-digital converter differential nonlinearity error correction in building conductance histograms
Wawrzyniak M.
Metrology and Measurement Systems
|
2006
|
Vol. 13, nr 2
161-169
EN
In nanowire electrical conductance quantization studies, conductance histograms are built from a large number of conductance curves of conductance stepwise variations in time. The conductance curves are obtained by means of a digital oscilloscope; as each digital oscilloscope has an analog-to-digital converter (ADC) whose differential nonlinearity (DNL) error strongly affects the obtained conductance histograms. The effect of the DNL error can be corrected through the procedure described in this paper. Moreover, measurement results of the DNL error for three digital oscilloscope models and the long-term DNL error variations for one oscilloscope model are presented.
PL
W badaniach kwantowania przewodności elektrycznej w nanodrutach na podstawie dużej liczby zarejestrowanych skokowych zmian przewodności w funkcji czasu (przebiegów czasowych) wyznaczane są histogramy przewodności. Do pomiarów przebiegów czasowych używane są oscyloskopy cyfrowe. Parametrem wpływającym na poprawność wyznaczenia histogramu przewodności jest błąd nieliniowości różniczkowej przetwornika a/c znajdującego się w oscyloskopie. Wpływ tego błędu może być wyeliminowany poprzez zastosowanie procedury korekcyjnej opisanej w artykule. W artykule przedstawiono także wyniki pomiarów błędu nieliniowości różniczkowej dla trzech modeli oscyloskopów cyfrowych oraz długoterminowych zmian błędu nieliniowości różniczkowej dla wybranego oscyloskopu.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.