Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Complex Fibonacci (c, p) : numbers

Prasad Bandhu

Mathematica Applicanda

|

2022

|

Vol. 50, no. 2

235-247

EN

In this paper a new complex Fibonacci Q_{p,c} matrix for complex Fibonacci (c,p)-numbers, where p is a positive integer and c is a non-zero complex number, is introduced. Thereby, we discuss various properties of Q_{p,c} matrix, coding and decoding method followed from the Q_{p,c} matrix.

PL

W artykule przedstawiono nową macierz zespoloną Fibonacciego oznaczaną Qp,c dla liczb zespolonych Fibonacciego (c, p), gdzie p jest liczbą całkowitą dodatnią, a c jest niezerową liczbą zespoloną. Omówiono różne własności macierzy Qp,c, oraz sposób kodowania i dekodowania wynikający z macierzy Qp,c.

2

Some aspects of fault diagnosis of linear analog circuits using sensitivity analysis

Sidyk Piotr

Przegląd Elektrotechniczny

|

2019

|

R. 95, nr 10

204--207

EN

The article presents an overview of methods for formulating diagnostic equations in linear analog circuits. In the case of dynamic circuits, the creation of a diagnostic equation based on the description of systems in the time domain and frequency domain is discussed. A uniﬁed and systematized description of different classes of linear circuits leads to the general test equation and allows for the use of the general procedure for solving it. The proposed methodology allows locating and identifying single and multiple parametric faults. For illustraton of the method the diagnosis of a linear electronic circuit is discussed.

PL

W artykule przedstawiono przegląd metod formułowania równań diagnostycznych w liniowych układach analogowych. W przypadku obwodów dynamicznych omówiono tworzenie równania diagnostycznego na podstawie opisu układów w dziedzinie czasu i częstotliwości. Ujednolicony i usystematyzowany opis różnych klas obwodów liniowych prowadzi do ogólnego równania diagnostycznego oraz pozwala na zastosowanie ogólnej procedury jego rozwiązywania. Zaproponowana metodologia umożliwia lokalizację i identyﬁkację pojedynczych oraz wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych. Działanie metody zilustrowano na przykładowym układzie elektronicznym.

3

Metody transimpedancyjne w analizie symbolicznej i optymalizacji układów elektronicznych

Balik F.

Prace Naukowe Instytutu Telekomunikacji, Teleinformatyki i Akustyki Politechniki Wrocławskiej. Monografie

|

2012

|

Vol. 87, nr 45

210--210

PL

W opracowaniu przedstawiono metody transimpedancyjne w analizie symbolicznej i optymalizacji układów elektronicznych. Podano definicję transimpedancji dwuportowej pierwszego i n-tego rzędu. Następnie omówiono podstawowe zależności dotyczące obliczania wrażliwości różniczkowych i wielkoprzyrostowych transimpedancji dwuportowych oraz podano związki transimpedancji z podstawowymi funkcjami układowymi. Pokazano możliwość analitycznego przedstawienia funkcji układowych oraz transimpedancji dwuportowych jako funkcji elementów układu elektronicznego. Znajomość zależności między funkcjami układowymi a transimpedancjami pozwoliła na wykonanie pełnej analizy symbolicznej, jak również symbolicznej analizy wrażliwościowej układów elektronicznych. Opracowano algorytmy analitycznego wyznaczania zarówno funkcji układowych, jak i funkcji wrażliwościowych w postaci ciągu wyrażeń symbolicznych. Zaprezentowano nowe algorytmy symbolicznej analizy wrażliwościowej wielkoprzyrostowej jedno- i wieloparametrycznej. Załączono odpowiednie przykłady. Następnie zaprezentowano semisymboliczną metodę analizy i optymalizacji układów elektronicznych na płaszczyźnie zespolonej, opartą na metodzie rozwarciowych stałych czasowych. Macierz transimpedancyjną wykorzystano w tworzeniu macierzy stałych czasowych, która stanowi podstawę do realizacji algorytmów analizy i optymalizacji. Sformułowano algorytm optymalizacji układów elektronicznych, zawierających zarówno kondensatory, jak i cewki, wykorzystujący metodę rozwarciowych stałych czasowych. Działanie algorytmów zilustrowano przykładami komputerowej symulacji. Wykorzystano właściwości transimpedancji dwuportowej i metodę rozwarciowych stałych czasowych, wyprowadzając podstawowe zależności, umożliwiające wyznaczanie wrażliwości bezwzględnych i względnych pierwszego rzędu biegunów dominujących w postaci symbolicznej. Podano algorytm generujący odpowiedni ciąg wyrażeń symbolicznych, służący do wyznaczania biegunów dominujących oraz ich wrażliwości. Zaprezentowano nową metodę analizy częstotliwościowej układów elektronicznych, opartą na definicji częstotliwościowej, wieloparametrycznej wrażliwości wielkoprzyrostowej (LCS AC). Określono warunki, dla których metoda ta jest efektywniejsza od tradycyjnych metod analizy. Opracowano algorytmy przyspieszania obliczeń, co jest ważne w analizie układów mikroelektronicznych. Opracowano semisymboliczną metodę optymalizacji układów elektronicznych w dziedzinie częstotliwości, wykorzystującą analizę LCS AC. Sformułowano algorytmy poprawy efektywności obliczeniowej tej metody. Wykazano, iż algorytmy te umożliwiają skrócenie całkowitego czasu optymalizacji od kilkunastu do nawet kilkuset razy. Zilustrowano praktyczne zastosowanie podanej metody do projektowania mikrosystemów zawierających oprócz układów scalonych również moduły bierne, gdzie bloki zintegrowane są wprowadzane do systemu optymalizacyjnego w postaci numerycznej, moduły bierne zaś zawierające oprócz opisu modelu elektrycznego również dane technologiczne wprowadzane są w postaci symbolicznej. Podano nową metodę upraszczania wyrażeń analitycznych, opisujących układ elektroniczny wykorzystującą wrażliwości wielkoprzyrostowe zarówno jedno-, jak i wieloparametryczne. Omówiono nową metodę przekształcania symbolicznego zapisu funkcji układowej w postaci sekwencji wyrażeń do postaci rozwiniętej o zmniejszonej liczbie operacji.

EN

In the present study the transimpedance methods were introduced for use in electronic circuit symbolic analysis and optimization. The first – and the n-th order twoport transimpedances as well as their differential properties were defined. Next, basic relationships concerning the calculation of differential and large-change sensitivities of the two-port transimpedances were provided and the relations between the transimpedances and fundamental circuit functions were given. Based on these relationships, it was possible to performed a complete symbolic analysis and symbolic sensitivity analysis. Algorithms for symbolic determination of both the network functions and sensitivity functions in the form of a sequence of symbolic expressions were described. In particular, unique algorithms of both mono- and multiparameter largechange sensitivity symbolic analysis were presented. Some adequate examples were enclosed. Next, a semisymbolic electronic circuit analysis and optimization methods on complex plane were presented. Properties of the transimpedance matrix were used in while creating a time-constant matrix. An algorithm for optimization of electronic circuits based on the method of open-circuit time-constants was formulated for circuits including both capacitances and inductances. The principles of operation of this algorithm were illustrated by appropriate computational examples. Using the properties of the two-port transimpedance and the open-circuit constant methods, basic relationships enabling us to calculate differential and relative sensitivities of dominant poles in symbolic form were derived. Algorithms for generating suitable sequence of symbolic expressions determining dominant poles as well as their sensitivities were formulated. A new method of frequency analysis of electronic circuits based on the definition of large-change multiparameter frequency sensitivity was described (the LCS AC method). Conditions were determined for this method to be more effective than conventional methods of analysis,. Methods for accelerating this analysis were elaborated, which are particularly useful in the analysis of integrated circuits. Next, a new circuit optimization method based on the LCS AC analysis was presented. Algorithms for improving computational efficiency were elaborated. These algorithms were shown to shorten the total time of optimization from dozen to even a few hundred times. In chapter 9, is illustrated practical application the to projecting microsystems apart from the monolithic blocks containing also passive modules embedded insight. The monolithic block data are introduced numerically, while the passive module data in symbolic form include beside the description of electric model also the technological data. Moreover, a new method for simplification of symbolic expressions describing electronic circuits by using the large-change sensitivities both mono- and multiparameter ones, was provided. Chapter 11 is dedicated to the a method of transformation of a sequence of expressions in symbolic form to the transmittance in the developed form of representation.

4

Metody transimpedancyjne w analizie symbolicznej i optymalizacji układów elektronicznych

Balik F.

Prace Naukowe Instytutu Telekomunikacji i Akustyki Politechniki Wrocławskiej. Monografie

|

2012

|

Vol. 87, nr 45

210--210

PL

W opracowaniu przedstawiono metody transimpedancyjne w analizie symbolicznej i optymalizacji układów elektronicznych. Podano definicję transimpedancji dwuportowej pierwszego i n-tego rzędu. Następnie omówiono podstawowe zależności dotyczące obliczania wrażliwości różniczkowych i wielkoprzyrostowych transimpedancji dwuportowych oraz podano związki transimpedancji z podstawowymi funkcjami układowymi. Pokazano możliwość analitycznego przedstawienia funkcji układowych oraz transimpedancji dwuportowych jako funkcji elementów układu elektronicznego. Znajomość zależności między funkcjami układowymi a transimpedancjami pozwoliła na wykonanie pełnej analizy symbolicznej, jak również symbolicznej analizy wrażliwościowej układów elektronicznych. Opracowano algorytmy analitycznego wyznaczania zarówno funkcji układowych, jak i funkcji wrażliwościowych w postaci ciągu wyrażeń symbolicznych. Zaprezentowano nowe algorytmy symbolicznej analizy wrażliwościowej wielkoprzyrostowej jedno- i wieloparametrycznej. Za- łączono odpowiednie przykłady. Następnie zaprezentowano semisymboliczną metodę analizy i optymalizacji układów elektronicznych na płaszczyźnie zespolonej, opartą na metodzie rozwarciowych stałych czasowych. Macierz transimpedancyjną wykorzystano w tworzeniu macierzy stałych czasowych, która stanowi podstawę do realizacji algorytmów analizy i optymalizacji. Sformułowano algorytm optymalizacji układów elektronicznych, zawierających zarówno kondensatory, jak i cewki, wykorzystujący metodę rozwarciowych stałych czasowych. Działanie algorytmów zilustrowano przykładami komputerowej symulacji. Wykorzystano właściwości transimpedancji dwuportowej i metodę rozwarciowych stałych czasowych, wyprowadzając podstawowe zależności, umożliwiające wyznaczanie wrażliwości bezwzględnych i względnych pierwszego rzędu biegunów dominujących w postaci symbolicznej. Podano algorytm generujący odpowiedni ciąg wyrażeń symbolicznych, słu- żący do wyznaczania biegunów dominujących oraz ich wrażliwości. Zaprezentowano nową metodę analizy częstotliwościowej układów elektronicznych, opartą na definicji częstotliwościowej, wieloparametrycznej wrażliwości wielkoprzyrostowej (LCS AC). Określono warunki, dla których metoda ta jest efektywniejsza od tradycyjnych metod analizy. Opracowano algorytmy przyspieszania obliczeń, co jest ważne w analizie układów mikroelektronicznych. Opracowano semisymboliczną metodę optymalizacji układów elektronicznych w dziedzinie częstotliwo- ści, wykorzystującą analizę LCS AC. Sformułowano algorytmy poprawy efektywności obliczeniowej tej metody. Wykazano, iż algorytmy te umożliwiają skrócenie całkowitego czasu optymalizacji od kilkunastu do nawet kilkuset razy. Zilustrowano praktyczne zastosowanie podanej metody do projektowania mikrosystemów zawierających oprócz układów scalonych również moduły bierne, gdzie bloki zintegrowane są wprowadzane do systemu optymalizacyjnego w postaci numerycznej, moduły bierne zaś zawierające oprócz opisu modelu elektrycznego również dane technologiczne wprowadzane są w postaci symbolicznej. Podano nową metodę upraszczania wyrażeń analitycznych, opisujących układ elektroniczny wykorzystującą wrażliwości wielkoprzyrostowe zarówno jedno-, jak i wieloparametryczne. Omówiono nową metodę przekształcania symbolicznego zapisu funkcji układowej w postaci sekwencji wyrażeń do postaci rozwiniętej o zmniejszonej liczbie operacji.

EN

In the present study the transimpedance methods were introduced for use in electronic circuit symbolic analysis and optimization. The first – and the n-th order twoport transimpedances as well as their differential properties were defined. Next, basic relationships concerning the calculation of differential and large-change sensitivities of the two-port transimpedances were provided and the relations between the transimpedances and fundamental circuit functions were given. Based on these relationships, it was possible to performed a complete symbolic analysis and symbolic sensitivity analysis. Algorithms for symbolic determination of both the network functions and sensitivity functions in the form of a sequence of symbolic expressions were described. In particular, unique algorithms of both mono- and multiparameter largechange sensitivity symbolic analysis were presented. Some adequate examples were enclosed. Next, a semisymbolic electronic circuit analysis and optimization methods on complex plane were presented. Properties of the transimpedance matrix were used in while creating a time-constant matrix. An algorithm for optimization of electronic circuits based on the method of open-circuit time-constants was formulated for circuits including both capacitances and inductances. The principles of operation of this algorithm were illustrated by appropriate computational examples. Using the properties of the two-port transimpedance and the open-circuit constant methods, basic relationships enabling us to calculate differential and relative sensitivities of dominant poles in symbolic form were derived. Algorithms for generating suitable sequence of symbolic expressions determining dominant poles as well as their sensitivities were formulated. A new method of frequency analysis of electronic circuits based on the definition of large-change multiparameter frequency sensitivity was described (the LCS AC method). Conditions were determined for this method to be more effective than conventional methods of analysis,. Methods for accelerating this analysis were elaborated, which are particularly useful in the analysis of integrated circuits. Next, a new circuit optimization method based on the LCS AC analysis was presented. Algorithms for improving computational efficiency were elaborated. These algorithms were shown to shorten the total time of optimization from dozen to even a few hundred times. In chapter 9, is illustrated practical application the to projecting 208 Transimpedance methods in symbolic analysis and optimization of electronics circuits microsystems apart from the monolithic blocks containing also passive modules embedded insight. The monolithic block data are introduced numerically, while the passive module data in symbolic form include beside the description of electric model also the technological data. Moreover, a new method for simplification of symbolic expressions describing electronic circuits by using the large-change sensitivities both mono- and multiparameter ones, was provided. Chapter 11 is dedicated to the a method of transformation of a sequence of expressions in symbolic form to the transmittance in the developed form of representation.

5

Sensitivity analysis of multiple fault test and reliability measures in integrated GPS/INS systems

Almagbile A., Wang J., Ding W., Knight N.

Archiwum Fotogrametrii, Kartografii i Teledetekcji

|

2011

|

Vol. 22

25--37

EN

Based on Kalman filtering, multi-sensor navigation systems, such as the integrated GPS/INS system, are widely accepted to enhance the navigation solution for various applications. However, such integrated systems do not always provide robust and stable navigation solutions due to unmodelled measurements and system dynamic errors, such as faults that degrade the performance of Kalman filtering for such integration. Single fault detection methods based on least squares (snapshot) method were investigated extensively in the literature and found effective to detect the fault at either sensor level or integration level. However, the system might be contaminated by multiple faults simultaneously. Thus, there is an increased likelyhood that some of the faults may not be detected and identified correctly. This will degrade the accuracy of positioning. In this paper multiple fault test and reliability measures based on a snapshot method were implemented in both the measurement model and the predicted states model for use in a GPS/INS integration system. The influences of the correlation coefficients between fault test statistics on the performances of the faults test and reliability measures were also investigated. The results indicate that the multiple fault test and reliability measures can perform more effectively in the measurement model than the predicted states model due to weak geometric strength within the predicted states model.

6

Przyspieszone badania degradacji przy stałym naprężeniu w analizie diod superelektroluminescencyjnych i wrażliwości parametrycznej

Li X., Jiang T., Sun F., Ma J.

Eksploatacja i Niezawodność

|

2010

|

nr 2

21-26

PL

Ruchy Browna są jednym z najpotężniejszych procesów stochastycznych w ciągłym czasie i ciągłej przestrzeni, który ma też mocne podstawy fi zyczne. W analizie przyspieszonych badań degradacji (ADT), rozkład odwrotny gaussowski, będący rozkładem czasu pierwszego przejścia ruchu Browna z dryfem (drift Brownian motion), staje się bardzo popularnym modelem predykcji statystycznej życia i niezawodności produktów. Diody superelektroluminescencyjne (SLD) o długiej żywotności i wysokiej niezawodności mają wiele zalet fi zycznych, które sprawiają, że zastępują one diody laserowe (LD) oraz diody elektroluminescencyjne (świecące) (LED) i mają szerokie zastosowanie w czujnikach światłowodowych. W niniejszym artykule przeprowadzono badania ADT diody SLD przy stałym naprężeniu. Aby ocenić możliwość zastosowania rozkładu odwrotnego gaussowskiego do badań diod SLD, określono najpierw trwałość i niezawodność SLD na podstawie danych o spadku mocy optycznej uzyskanych z badania ADT prowadzonego przy stałym naprężeniu. Następnie przeprowadzono analizy wrażliwości parametrycznej w trzech wymiarach: niezawodności, czasu życia i parametru analitycznego. Wreszcie, kierując się wynikami analizy wrażliwościowej, przedstawiono niektóre zasady planowania i przeprowadzania testów ADT przy stałym naprężeniu.

EN

Brownian motion is one of the most powerful stochastic processes in continuous time and continuous space and has a good physics background. For the analysis of accelerated degradation testing (ADT), the inverse Gaussian (IG) distribution, which is the fi rst passage time distribution of the drift Brownian motion (DBM), becomes a very popular statistical prediction model of product life and reliability. Instead of laser diode (LD) and Light Emitting Diode (LED), long-life and high-reliability super-luminescent diode (SLD) has many physical advantages and has been widely used in optical fi ber sensors. In this paper, the constant stress ADT (CSADT) of SLD was conducted. In order to evaluate the applicability of IG distribution to SLD, we fi rst estimate the life and reliability of SLD based on the optical power degradation data collected in CSADT. Then parameter sensitivity analyses are conducted in the 3-dimensions of reliability, lifetime and the analytic parameter. Finally, according to the sensitive analysis results, some CASDT planning and testing principles are presented.

7

Contact shape optimization - genetic and semi-analytical methods

Szweda J., Vondrak V.

Zeszyty Naukowe Katedry Mechaniki Stosowanej / Politechnika Śląska

|

2004

|

z. 25

153-160

EN

In this paper there are discussed the ways of suitable numerical solution of contact shape optimization problem. The first part of paper is focused on local optimization by employing sensitivity analysis. The second part of paper is focused on methods of global optimization sphere performed by genetic algorithm. The rest of the paper shows the numerical experiments on two plane structural problems. These experiments validate the efficiency of the semi-analytical method in local optimization and the ability of genetic algorithm in search the area of the global optimum.

PL

W artykule przedstawiono sposoby odpowiedniego rozwiązania zadania optymalizacji kształtu styku. Pierwsza część pracy jest skoncentrowana na lokalnej optymalizacji przy użyciu analizy wrażliwości. Druga, natomiast poświęcona jest optymalizacji globalnej przeprowadzonej z wykorzystaniem algorytmów genetycznych. W pozostałej części pracy pokazano badania numeryczne płaskich struktur. Badania te potwierdzają skuteczność metody pół analitycznej w optymalizacji lokalnej, a także wykazują zdolność algorytmu genetycznego w poszukiwaniu optimum globalnego.