Pokazano możliwość wykorzystania metody spektroskopii EPR w badaniach strukturalnych cienkich warstw n-C:H. Służy do tego analiza kształtu linii EPR, wielkość czynnika g oraz czas relaksacji w korelacji z szerokością linii AB. Na podstawie tej analizy przedstawiono możliwe źródła paramagnctyzmu badanych struktur.
EN
The authors show the possibility of using the EPR spcctroscopy method in structural investigations of a-C: H film layers. The analysis of EPR line shape serves the purpose, magnitude of g factor and relaxation time in correlation with the width of AB line width. On the basis of this analysis possible sources were presented of paramagnctism of the investigated structures.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.