PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 Przegląd Elektrotechniczny
Autorzy help
  1. 1 Mróz P.
Lata help
  1. 1 2009
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  algorytmy testowania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Przegląd metod do testowania dokładności statycznej urządzeń pomiarowych
Mróz P.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2009
|
R. 85, nr 2
63-66
PL
Jednym z podstawowych parametrów metrologicznych urządzeń pomiarowych, decydujących o ich jakości, jest ich dokładność statyczna. W artykule przedstawiono przegląd metod testowania urządzeń pomiarowych, które mogą być wykorzystane do testowania ich dokładności statycznej. Przedstawiono cztery metody, wskazując ich zalety i wady.
EN
Static accuracy is one of the basic metrological parameters of measurement devices, which decides about their quality. Paper presents the overview of measurement devices testing methods that can be used to testing their static accuracy. Four testing methods are being presented in the paper. There are pointed their advantages and disadvantages.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.