Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Prace Instytutu Metalurgii Żelaza

1 2011

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: XRF and OES spectrometrs

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wdrożenie nowych spektrometrów XRF oraz OES ze wzbudzeniem iskrowym do analiz wykonywanych w Laboratorium Analiz Chemicznych

Stankiewicz G., Kubiczek M.

Prace Instytutu Metalurgii Żelaza

2011

T. 63, nr 1

73-75

Celem pracy było wdrożenie nowych spektrometrów XRF i OES ze wzbudzeniem iskrowym do rutynowych analiz składu chemicznego prowadzonych w Laboratorium Analiz Chemicznych. Dla spektrometru rentgenowskiego przygotowano programy analityczne umożliwiające analizę składu chemicznego rud i koncentratów żelaza oraz stopów niklu, natomiast dla optycznego spektrometru emisyjnego przygotowano programy analityczne do oznaczania składu chemicznego stali nisko- i średniostopowych oraz stali chromowych i chromowoniklowych. Znowelizowano dotychczasowe procedury dotyczące analizy stali, stopów niklu i rud żelaza.

The purpose of the work was to implement the new XRF and OES spark spectrometers into the routine chemical composition analyses conducted in the Chemical Analyses Laboratory. For the X-ray spectrometer the analytical programs to enable the chemical composition analysis of ores and iron concentrates as well as nickel alloys were prepared, while for the optical emission spectrometer the analytical programs for determination of chemical composition of low- and medium-alloy steels as well as chromium and chromium-nickel steels were prepared. The current procedures for analysis of steels, nickel alloys and iron ores were amended.