Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  XPS method
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Przedstawiono wyniki badań wpływu jednostkowej energii aktywowania na utlenienie i właściwości adhezyjne warstwy wierzchniej folii wytworzonej z mieszaniny polietylenu dużej gęstości i polipropylenu izotaktycznego oraz napełniaczy mineralnych. W celach porównawczych przeprowadzono również takie badania folii bez tych napełniaczy. Badania stopnia utlenienia warstwy wierzchniej wykonano metodą spektroskopii fotoelektronowej (XPS), a do badań właściwości adhezyjnych zastosowano znormalizowany test przyczepności. Na podstawie wyników badań metodą XPS stwierdzono, że stopień utlenienia obu folii wzrasta monotonicznie wraz ze wzrostem jednostkowej energii aktywowania. Jednak w pierwszej fazie aktywowania, tzn. w zakresie jednostkowej energii aktywowania mniejszej niż 3 kJ/m2, znacznie większą podatność na utlenienie wykazuje folia nienapełniona. W zakresie większych wartości tej energii procesy utlenienia przebiegają w obu rodzajach folii w sposób podobny, a ponadto w warstwie wierzchniej pojawia się azot. Jego źródłem są atomy azotu z powietrza jonizowane w szczelinie aktywatora i następnie wiążące się z materiałem folii. Zaobserwowano również, że warstwa wierzchnia folii napełnionej składa się w dominującym stopniu z osnowy polimerowej, której udział jest w tej warstwie znacznie większy niż w materiale folii. Wyniki testu przyczepności są podstawą do stwierdzenia, że folia napełniona charakteryzuje się lepszymi właściwościami adhezyjnymi niż folia nienapełniona. Pomimo to wymaga ona także odpowiedniego modyfikowania warstwy wierzchniej, celem poprawy tych właściwości.
EN
HDPE or isotactic PP film, (a) nonfilled and (b) filled (CaCO3, SiO2, MgO, CaO, TiO2 and Ca stearate), was exposed to corona discharge in the presence of air at 23°C. As the unit energy was raised, the deg. of oxidn. in the topmost a- and b-layer rose. At <3 kJ/m2, the a-layer was 4× as apt to oxidize as the b-layer; at =3 kJ/m2, both film types were nearly equally oxidized and N occurred in either type (from air). Over 0–24 kJ/m2, the deg. of oxidn. rose (a) 56 and (b) 2.5 times. The surface b-layers contained much less fillers than the bulk content. To make printing ink adhere in 70% required the films to be activated with (a) 0.75 and (b) 1.5 kJ/m2.
PL
W pracy tej, technika XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) została użyta do pomiaru odchyleń od składu stechiometrycznego w badanych warstwach. Stwierdzono, że skład chemiczny otrzymanych drobnokrystalicznych i amorficznych warstw tlenku odpowiada, w granicach błędu pomiarowego, stechiometrycznej formule MoO3. Zaobserwowano także dużą wrażliwość badanych warstw na bombardowanie jonowe w wysokiej próżni. W jego wyniku ma miejsce wyraźny, powierzchniowy ubytek tlenu. Potwierdzają to wyniki analiz, a także zmiany kształtu widma fotoelektronów w walencyjnym przedziale energii, wskazujące na wzrost koncentracji centrów donorowych.
EN
The aim of this work was to estimate the oxygen to molybdenum atomic ratios in thin films under study, by means of XPS method. The photoelectron spectra were registered for as loaded (A) crystalline and amorphous thin oxide films on silicon substrates. Using Mo(3d) and 0(1s) core level lines, the oxygen to molybdenum atomic ratios have been determined as very close, within experimental error, to the valve corresponding to stoichiometric MoO3 oxide. Films of both types have been also found to be highly sensitive to ion bombardment under high vacuum conditions. After such a treatment, significant change of core level and valence band spectra of both, crystalline and amorphous films, can be observed - (B) denoted spectra. This change is due to oxygen vacancies playing a role of donor centers.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.