Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  X-ray computed tomography (X-ray CT)
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Istotnym czynnikiem decydującym o jakości wyrobów jest wprowadzenie nowych metod w dziedzinie metrologii technicznej. W pracy przedstawiono metodykę analizy badań metrologicznych uzyskanych za pomocą tomografu komputerowego i skanera optycznego 3D. Urządzenia te umożliwiły uzyskanie wirtualnych obiektów oraz pozwoliły na przeprowadzenie trójwymiarowych analiz przestrzennych. Przedstawiono zasadę działania tych urządzeń oraz przeanalizowano ich możliwości na przykładzie wytypowanych odlewów. Wyniki badań przedstawiono za pomocą określonych wymiarów oraz mapy kolorów na powierzchni modelu. Dokonano oceny dokładności pomiarów w poszczególnych metodach.
EN
The launch of new methods in the technical metrology area is a material factor determining the quality of the products. The paper presents the methodology of analysis of metrological tests conducted with the use of computed tomography and an optical 3D scanner. These devices allowed us to obtain virtual objects and conduct 3D spatial analyses. The paper presents the operating principle of these devices and analyses their capabilities based on selected castings. The results of the tests are presented with the support of determined dimensions and colour maps on the model surface. The accuracy of measurements in individual methods was assessed.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.