Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Archives of Foundry Engineering

1 2010

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: SiO2 analysis

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Oznaczanie zawartości SiO2 w piasku chromitowym metodą spektroskopii w podczerwieni

Bobrowski A., Holtzer M.

Archives of Foundry Engineering

2010

Vol. 10, iss. 2 spec.

19--22

W pracy przedstawiono wyniki oznaczania zawartości SiO2 w piasku chromitowym oraz w regeneracie piasku chromitowego metodą spektroskopii w podczerwieni (FTIR) i metodą chemiczną. Ze względu na interferencyjne oddziaływanie składników badanych próbek z pasmem analitycznym, charakterystycznym dla krzemionki (798 i 779 cm-1), do analizy przyjęto jako pasmo analityczne pasmo przy liczbie falowej 1080 cm-1. Analiza regresji wykazała zadawalającą zgodność wyników uzyskanych metodą FTIR i metodą chemiczną, szczególnie przy wyższych zawartościach SiO2.

The results of determination of the SiO2 content in a chromite sand and in a reclaimer chromite sand by the infrared spectroscopy (FTIR) and by the chemical method, are presented in the paper. Due to the interference of components of the investigated samples with the analytical band characteristic for silica (798 and 779 -1), the band at a wave number of 1080 cm-1 was accepted as the analytical band in examinations. The regression analysis exhibited the satisfactory compatibility of the results obtained by the FTIR method and by the chemical one, especially at the higher SiO2 content.