Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  Secondary Electron Imaging
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Appreciation methods of structural changes on drawing dies eyelet surface layer
EN
Structural changes near surface layer of drawing eyelets openings observed with X-ray micro analyser, produce evidence of conformity with statistic research wear results of those tools. Computer image analysis method used to analyse surface layer pictures does not confirm fully that opinion. It is suggested that other researches of surface layer parameters of drawing die eyelets allow conclude on that difference reason.
PL
Zmiany strukturalne warstw przypowierzchniowych otworów oczek ciągadeł obserwowane na mikroanalizatorze rentgenowskim wykazały zgodność z badaniami statystycznymi stopnia zużycia tych narzędzi. Metoda komputerowej analizy obrazów zastosowana do analizy zarejestrowanych zdjęć warstw przypowierzchniowych nie potwierdziła w pełni tej oceny. Wydaje się, że wyniki badań innych parametrów warstw wierzchnich ciągadeł pozwolą na ustalenie przyczyn tych różnic.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.