Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Wytwarzanie ostrzy światłowodowych dla mikroskopii bliskiego pola optycznego

Małozięć G., Wałach L., Radojewski J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2009

|

Vol. 50, nr 9

98-99

PL

W pracy przedstawiono proces chemicznego trawienia ostrzy światłowodowych do zastosowań w skaningowym mikroskopie bliskiego pola optycznego (SNOM). Są one jednymi z najważniejszych elementów mikroskopu, gdyż od nich zależy rozdzielczość i jakość otrzymanych obrazów. Omówiono również budowę stanowiska do trawienia sond oraz zasadę jego działania. Jest ono w dużym stopniu zautomatyzowane i sterowane za pomocą komputera, co ogranicza do minimum kontakt operatora z niebezpiecznym roztworem trawiącym - kwasem fluorowodorowym.

EN

In the paper the chemical etching process of optical waveguide tips for scanning optical near-field microscopy (SNOM) was described. The waveguide tips are the most important microscope part because they are responsible for resolution and quality of obtained images. Set-up of optical waveguide tips etching apparatus was described. It is automatic in main part and driven by a computer. It makes it possible to remote operation with dangerous etching chemicals - HF acid.

2

Mikroskopia bliskiego pola optycznego na bazie rezonatorów kwarcowych

Kulka T., Gil P., Woszczyna M., Piotrowicz A., Kowalska Z., Radojewski J., Gotszalk T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2009

|

Vol. 50, nr 9

53-55

PL

W artykule zaprezentowano sposoby wykorzystania rezonatorów kwarcowych wraz z ostrzami światłowodowymi do badań powierzchni w mikroskopii bliskiego pola optycznego. Celem prezentowanej pracy była analiza wpływu przyklejonych ostrzy na charakterystyki częstotliwościowe rezonatorów. Skupiono się również na ocenie przydatności jedno- i dwupunktowych połączeń światłowód-rezonator w mikroskopii bliskich oddziaływań. W wyniku przeprowadzonych eksperymentów stwierdzono: - zmniejszenie się częstotliwości rezonansowej oraz dobroci widelca kwarcowego z przyklejonym na końcu kamertonu ostrzem światłowodowym w stosunku do rezonatora bez dodatkowego obciążenia; - rozrzut częstotliwości rezonansowej, związany np. z długością wystającego ostrza czy ilością kleju użytego do połączenia elementów; - całkowite rozstrojenie podwójnie klejonych układów ze względu na wielokrotne rezonanse w szerokim zakresie częstotliwości (nieprzydatne w mikroskopii SNOM).

EN

This article presents quartz resonators together with glued fiber optic tips application in the near-field optical microscopy. The purpose of the study was to analyze the influence of connected tips on the frequency characteristics of resonators. Our work focuses also on the suitability of one-point and two-points connections between fiber and resonator in near-field microscopy. As a result of the experiments it was found: - a decrease in the resonance frequency and the quality factor of quartz fork with fiber tip glued at the end of resonator in relation to the resonator without the additional load; - resonant frequency change, associated with, for example: the length of waveguide tip or amount of glue used to connect components; - total detuning of double-glued systems because of the multiple resonances in a wide range of frequencies (not useful in SNOM microscopy).

3

Corrugated SNOM probe with enhanced energy throughput

Antosiewicz T. J., Szoplik T.

Opto-Electronics Review

|

2008

|

Vol. 16, No. 4

451-457

EN

In a previous paper we proposed a modification of metal-coated tapered-fibre aperture probes for scanning near-field optical microscopes (SNOMs). The modification consists in radial corrugations of the metal-dielectric interface oriented inward the core. Their purpose is to facilitate the excitation of surface plasmons, which increase the transport of energy beyond the cut-off diameter and radiate a quasi-dipolar field from the probe output rim. An increase in energy output allows for reduction of the apex diameter, which is the main factor determining the resolution of the microscope. In two-dimensional finite-difference time-domain (FDTD) simulations we analyse the performance of the new type of SNOM probe. We admit, however, that the two-dimensional approximation gives better results than expected from exact three-dimensional ones. Nevertheless, optimisation of enhanced energy throughput in corrugated probes should lead to at least twice better resolution with the same sensitivity of detectors available nowadays.

4

Moving from micro- to nanoworld in optical domain scanning probe microscopy

Radojewski J.

Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences

|

2006

|

Vol. 54, nr 1

25-32

EN

In the article we described the evolution of optical technology tram lens-type microscopes working in far-field to SNOM (Scanning Near-Field Optical Microscopy) constructions. We considered two systems elaborated in our laboratory, namely PSTM system (photon Scanning Tunelling Microscope) and SNOM system. In both systems we obtained subwavelength resolution. Same details about optical point probe technology in both systems are given and experimental results presented.