Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Tuleta M.

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: SIMS depth profiles

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Badanie powierzchni materiałów ceramicznych metodą spektrometrii masowej jonów wtórnych

Tuleta M.

Materiały Ceramiczne

2014

T. 66, nr 2

126--128

Profile głębokościowe przypowierzchniowego obszaru szkła sodowo glinokrzemianowego i warstwy diamentowej zostały otrzymane metodą spektrometrii masowej jonów wtórnych (SIMS). Profile pokazały zależność od wiązki jonów pierwotnych tlenu i cezu. Efekt ten jest wyjaśniany różnym mechanizmem modyfikacji powierzchni poddawanej działaniu jonów pierwotnych.

Depth profiles of the near-surface region of sodium aluminosilicate glass and diamond film were obtained by the secondary ion mass spectrometry method. The profiles showed the dependence on oxygen and cesium ion beams. This effect is explained by various modification mechanisms of the surface treated with primary ions.

Badanie powierzchni szkła wiązką jonów

Tuleta M.

Materiały Ceramiczne

2013

T. 65, nr 1

28--30

Powierzchnia szkła sodowo glinokrzemianowego była analizowana za pomocą spektrometrii masowej jonów wtórnych (SIMS). Badano wpływ wiązki jonów tlenu i argonu na profile głębokościowe poszczególnych składników szkła. Otrzymane wyniki interpretowano w oparciu o mechaniczne i polowe oddziaływanie wiązki jonów z powierzchnią szkła.

The surface of sodium aluminosilicate glass was analysed by means of secondary ion mass spectrometry (SIMS). An influence of oxygen and argon ion beams on depth profiles of particular glass constituents was investigated. The results obtained were interpreted on the basis of the mechanical and field interactions of the ion beam with the glass surface.