Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  PTCDA thin films
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
The improved approach for analysis of the thin film optical spectra exhibiting the interference fringes is presented. It is shown that, based on the positions of adjacent extrema, the interference order numbers can be easily identified allowing for determination of a model-free normal dispersion of the refraction coefficient provided the film thickness is known from an independent measurement. The usefulness of the presented method is illustrated by the analysis of the reflection spectra obtained for thin films of 3, 4, 9, 10-perylene tetracarboxylic dianhydride (PTCDA) with various thicknesses determined with the atomic force microscopy (AFM).
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.