PL
|
EN
Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O bazie
test
Ograniczanie wyników
Czasopisma
1
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Autorzy
1
Dziedzic A.
1
Stadler A. W.
1
Stęplewski W.
1
Zawiślak Z.
Lata
1
2013
Preferencje
Polski
English
Język
Widoczny
[Schowaj]
Abstrakt
10
20
50
100
Liczba wyników
Znaleziono wyników: 1
Liczba wyników na stronie
10
20
50
100
Strona
/ 1
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: Ni-P foil
Sortuj według:
trafności
tytułu publikacji
daty malejąco
daty rosnąco
tytułu czasopisma
nazwiska pierwszego autora
Ogranicz wyniki do:
we wszystkich polach
w tytułach publikacji
w tytułach czasopism
w nazwiskach autorów
w słowach kluczowych
w cytowaniach
Strona
/ 1
1
Dostęp do pełnego tekstu lokalnie
Noise properties of thin-film Ni-P resistors embedded in printed circuit boards
Stadler A. W.
,
Zawiślak Z.
,
Stęplewski W.
,
Dziedzic A.
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
|
2013
|
Vol. 61, nr 3
731--735
EN
Noise studies of planar thin-film Ni-P resistors made in/on Printed Circuit Boards, both covered with two different types of cladding or uncladded have been described. The resistors have been made of the resistive-conductive-material (Ohmega-Ply©) of 100 Ώ/sq. Noise of the selected pairs of samples has been measured in the DC resistance bridge with a transformer as the first stage in a signal path. 1/f noise caused by resistance fluctuations has been found to be the main noise component. Parameters describing noise properties of the resistors have been calculated and then compared with the parameters of other previously studied thin- and thick-film resistive materials.
Strona
/ 1
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.