Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2001

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: NXRS

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wpływ struktury na wysokokątowe widma niezwierciedlanego rozpraszania promieniowania rentgenowskiego w układach wielowarstwowych

Chocyk D., Gładyszewski G.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2001

Vol. 42, nr 8-9

38-40

The paper presents the results of the research of the influence of structural parameters of multilayers on the large-angle nonspecular x-ray scattering (NXRS) profiles. The theoretical research were done using the three-dimensional model of imperfect multilayers structure, which take into consideration a superstructure of a multilayers, grain structure and a crystal structure of sublayers. For superlattice Au(001)/Ni(001) studied in this paper, we considered the influence on the large-angle NXRS profiles the following parameters: size of period, fluctuations of the sublayer thickness, the root-mean-square of roughness and vertical mosaicity of grain. We conclude that the large-angle NXRS profiles are strongly dependent on structural parameter considered in this work.