Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Wpływ rodzaju promiennika podczerwieni na skuteczność korekcji wzmocnienia matryc mikrobolometrycznych

Olbrycht R., Więcek B.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2011

|

R. 57, nr 10

1127-1129

PL

Artykuł porusza problem korekcji współczynników wzmocnienia matryc mikrobolometrycznych w kamerach termowizyjnych przy użyciu promienników podczerwieni. Przedstawiona metoda nie wymaga używania dwóch modeli ciał doskonale czarnych. Nowością jest porównanie efektów uzyskiwanych przy użyciu dużego (pierścieniowego) i małego (punktowego) promiennika podczerwieni. Wskazano możliwość wystąpienia artefaktów w macierzy wyznaczanej przy użyciu małego promiennika, oraz stwierdzono ich brak podczas stosowania dużego promiennika.

EN

The paper describes the problem of correcting microbolometer gain coefficients in thermal cameras. There is presented the reference approach (Section 2) which requires to record thermograms of two blackbody model surfaces in different temperatures [1, 2, 3]. The authors propose a different method (Section 3) [4, 5], which is based on using an infrared emitter built into the thermal camera (Fig. 2). The novelty in this paper is analysis of the dependence between the emitter size and correction efficiency. In particular, the comparison of small, spotlight emitter (Fig. 1a) and larger, toroidal one (Fig. 1b) is provided. For qualitative comparison of correction results, the matrices of the calculated gain correction factors are shown in Fig. 3. One may notice some artifacts in Fig. 3c (obtained with the small emitter). The quantitative analysis (namely, the calculated values of the root mean square error for centre regions of matrices) confirms the presence of artifacts. Also the histograms of the calculated matrices (Fig. 4) are in coherence with the above observations. The conclusion is that a large emitter is better for determination of gain correction factors with the proposed method (root mean square error was about 0,0096 in this particular case). In case of a small emitter the unwanted point artifacts may occur.

2

Shutterless method for gain nonuniformity correction of microbolometer detectors

Olbrycht R., Więcek B. B., Świątczak T.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2010

|

R. 86, nr 11a

120-122

EN

In this paper the new method of gain non-uniformity correction of microbolometer detectors is presented. The principle of this method is based on using an additional source of infrared radiation, which provides the excitation to the detector in parallel with the radiation of observed scene. The response of the detector to the excitation is calculated using frequency analysis, and it contains the information about the detector’s gain non-uniformity. This method enables a thermal camera to perform a live gain correction without using a shutter.

PL

W artykule została zaprezentowania nowa metoda korekcji niejednorodności wzmocnienia detektorów mikrobolometrycznych stosowanych w kamerach termowizyjnych. Metoda bazuje na wykorzystaniu promiennika podczerwieni jako źródła dodatkowego promieniowania podczerwonego. Analiza częstotliwościowa odpowiedzi detektora pozwala otrzymać informację o niejednorodności wzmocnienia.

3

Korekcja dryftu temperaturowego detektorów mikrobolometrycznych

Olbrycht R., Więcek B.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2009

|

R. 55, nr 11

89-893

PL

W pracy przedstawiono nową metodę wyznaczania dryftu temperaturowe-go (ang. offset) mikrobolometrycznych kamer termowizyjnych bez ko-nieczności stosowania migawki, która przesłania obserwowaną scenę. Zamiast migawki zastosowano półprzezroczystą przysłonę, która zmienia poziom energii docierającej do detektora. Metoda zakłada, że w czasie korekcji dryftu temperaturowego kamera "patrzy" na nieruchomy obiekt.

EN

In this paper a new method of temperature drift compensation of microbolometer detectors is presented. Thermal cameras with such detectors are commonly used thanks to relatively low price, small dimensions and no requirement for cooling the detector. Regardless of the microbolometer type, there is a problem of detector temperature drift which is non-uniform over the detector surface. The problem is a result of very high thermal sensitivity of the microbolometer structure which is susceptible to heat coming from surrounding electronics. The most commonly used approach to deal with the problem of temperature drift is use of a mechanical shutter which periodically blocks the observation of scene for the time necessary to perform the correction. The principle of the presented method is based on using an aperture introduced periodically between the detector and the observed scene instead of the shutter. The detector response to the scene radiation with and without the aperture is recorded. Using equation (4), one can calculate the real amount of scene radiation, irrespective of the offset value introduced by the microbolometer temperature drift (equation (5)). This method enables a thermal camera to perform a live offset correction without using a shutter and without interruption of scene observation. Besides of theoretical information about the new method, chosen quantitative results of experiments realized at the Institute of Electronics, Technical University of Lodz are given (Figs. 4 and 5).