Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2012

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: NLS

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Research on Damage Mechanism of SCB Initiators under RF

Chen F., Zhou B., Qin Z, Shen R.

Przegląd Elektrotechniczny

2012

R. 88, nr 11a

188-190

In order to elucidate the response characteristic of semiconductor bridge(SCB) initiators under radio frequency(RF), RF measurement system was used to test the RF sensitivity of SCBs, after that the energy stored in a 22?F was used to activate the SCB. It is inferred from the results of Bruceton-method firing experiment that RF energy does not damage the SCB chip, but can lead to the accidental ignition of SCB initiators or change the color of normal lead styphnate(NLS). RF can also passivate SCB significantly and the all-fire voltage increases from 6.71V to 7.72V. The experimental data of X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) analysis, directly indicated that heat generated by RF changes the valence of Pb in NLS from +2 to +4. The decomposition of NLS is responsible for the loss in sensitivity of SCBs. The research results provide a theoretical guidance for the electromagnetic compatibility(EMC) design of SCB initiators.

W artykule opisano badanie oddziaływania sygnałów częstotliwości radiowej (ang. Radio Frequency) na zapalniki zbudowane z mostka półprzewodnikowego. Przedstawiono omówienie teoretyczne oraz wyniki badań eksperymentalnych.