Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2019

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: NIRScan

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Możliwości oraz obszar zastosowań małogabarytowego spektrometru DLP NIRScan Nano do błyskawicznych pomiarów spektralnych

Gąsiorowski Marek, Patryn Aleksy, Bychto Leszek

Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej

2019

Nr 15

57--70

Zmodyfikowana wersja minispektrometru typu DPL NIR Scan została testowo zastosowana w laboratoriach oraz w warunkach mobilnych do analizy różnych materiałów. Jako testowa została wybrana seria obiektów badawczych w postaci głównie obiektów organicznych. Metoda pomiarowa i zastosowane urządzenie z powodzeniem może być zastosowane również do badania różnorodnych cienkowarstwowych materiałów półprzewodnikowych, ze względu na zakres pomiarowy. Badania wstępne już wykonane na innych obiektach, w tym z grupy materiałów stosowanych w elektronice, m.in. filmów półprzewodnikowych i nanokompozytowych, rokuje perspektywistyczność poszerzenia grupy obiektów pomiarowych też i na materiały z tej grupy. Za pomocą urządzenia można tworzyć bazy danych pomiarowych, które później mogą być wykorzystywane do diagnostyki badanych obiektów, w tym zmian w dziedzinie czasu lub na etapach obróbki technologicznej.

A modified version of the DPL NIR Scan type mini-spectrometer was tested in laboratories and in mobile conditions for the analysis of various materials. A series of research objects in the form of mainly organic objects was chosen as the testing probes. The measuring method and the device used can also be successfully used for testing various thin-film semiconductor materials, due to the measuring range. Preliminary tests already performed on other objects, including from the group of materials used in electronics, among others semiconductor and nanocomposite films, promising the prospect of expanding the group of measurement objects also for materials from this group. Using the device, it is possible to create measurement databases that can later be used to diagnose the examined objects, including changes in the time domain or at the stages of technological processing.