Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  Micro-PIV
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Metrologia urządzeń mikroprzepływowych
PL
W artykule przedstawiono problemy związane z metrologią urządzeń mikroprzepływowych. Podano przykłady metod pomiarowych w mikroskali: mikroskopia optyczna, skaningowa (SEM), konfokalna, sił atomowych (AFM), interferometria. Scharakteryzowano dostępne programy numeryczne umożliwiające symulacje, jak również technikę mikroPIV umożliwiającą pomiary mikroprzepływów.
EN
Problems associated with the metrology of microfluidic devices are discussed. Examples of measurements in micro-scale such as optical, scanning (SEM), confocal, atomic force microscopy (AFM) and interferometry are presented. The codes enabling computer simulations as well as microPIV technique allowing measurements of microflows are described.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.