Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  MEH-PPV
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
Purpose: The aim of this paper was to investigate changes in surface morphology and optoelectronic properties of MEH-PPV thin films. Thin films were prepared using spin coating method. Design/methodology/approach: The changes in surface topography was observed by the atomic force microscope AFM. The results of thin films roughness have been prepared in the software XEI. The UV/VIS spectrometer was used to investigate absorbance of the obtained thin films. Findings: Results and their analysis allow to conclude that the solvent, which is an important factor in spin coating technology has an influence on surface morphology and optoelectronic properties of MEH-PPV thin films. Practical implications: Known MEH-PPV optoeletronic properties and the possibility of obtaining a uniform thin film show that it can be a good material for optoelectronic and photovoltaic application. Originality/value: The paper presents some researches of MEH-PPV thin films deposited by spin coating method deposition on glass BK7. A MEH-PPV solution was prepared using three different solvents: chlorobenzene, chloroform and pyridine.
PL
W artykule opisano wyniki badań polimerowych diod elektroluminescencyjnych dotyczące doboru związku emitującego światło, badań starzeniowych i badań procesu hermetyzacji. W badaniach wykorzystano pomiary elektryczne do wyznaczania przebiegu charakterystyk prądowo-napięciowych i gęstości prądu w celu testowania jakości i trwałości wytworzonych struktur diod.
EN
In this paper, the results of studies on polymer light emitting diodes, such as emitting compound selection, aging tests and encapsulation process, were described. Electrical measurements were mainly used to determine current-voltage characteristics and current density what makes possible to test quality and life time of the prepared OLED structures.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.