Technika LBIC (Light Beam Induced Current) została zastosowana do charakteryzacji testowych struktur detektorów MSM wykonanych na warstwie AlGaN. Zauważono niejednorodności generowanego fotoprądu nie wynikające z morfologii powierzchni. Przeprowadzone pomiary pozwoliły na oszacowanie odległości rzędu ułamków mikrometrów, którą przebywają nośniki w polu elektrycznym w warstwie zubożonej AlGaN. Zastosowanie metody LBIC umożliwiło ocenę jakości warstw zastosowanych do wytwarzania detektorów AlGaN MSM.
EN
Light Beam Induced Current (LBIC) technique was used for investigation of AlGaN MSM test structures. The obtained results were correlated with device morphology obtained by scanning electron microscopy. This allowed us to investigate influence of MSM structure fabrication process on electronic transport in the thin epitaxial layer.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.