Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Archives of Metallurgy and Materials

2 Schwarzer R.

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: Kikuchi patterns

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

A fast ACOM/EBSD system

Schwarzer R.

Archives of Metallurgy and Materials

2008

Vol. 53, iss. 1

5-10

Automated backscatter Kikuchi diffraction in the scanning electron microscope allows the microstructure, crystallography and texture of polycrystalline solids to be characterized on the sub-grain size level. It is about to become a tool for process and quality control. Mandatory requirements for these applications are a high speed and measures to enable re-examination of the results at any time. Separate acquisition and store of sequences of diffraction patterns in a raw data format, followed by off-line calculation of the grain orientations, has distinct advantages over conventional on-line EBSD analysis. Aspects of hardware and software for realizing a fast ACOM/EBSD system are discussed.

Automatyzowana rejestracja dyfrakcji Kikuchiego promieni zwrotnych w elektronowym mikroskopie skaninhowym pozwala na scharakteryzowanie mikrostruktury, krystalografię i teksturę polikrystalicznych ciał stalłch w skali rozmiaru subziaren. Technika to staje się narzędziem kontroli procesów i jakości. Obowiązującą normą dla tych zastosowań to duża szybkość oraz możliwość rewizji wyników w dowolnym czasie. Rozdzielenie akwizycji i przechowania sekwencji dyfraktograrnów w formie danych pierwotnych w połączeniu z obliczeniami off-line orientacji ziarn posiada wyraźną przewagę nad konwencjonalną EBSD analizą on-line. Dyskutowane są aspekty hardwarowe oraz softwarowe dla realizacji szybkiego systemu ACOM/EBSD.

Advances in the Analysis of Texture and Microstructure

Schwarzer R.

Archives of Metallurgy and Materials

2005

Vol. 50, iss. 1

7-20

The past decade has seen some remarkable progress in texture analysis. There is no universal method, and the choice depends on the sampled grain structure as well as on the degree of required information. The standard technique for the analysis of global texture is X-ray pole figure measurement and ODF calculation. A significant improvement in speed and accuracy has been achieved by using a two-dimensional area detector. An extension to local texture measurement has been made by developing an X-ray scanning instrument. X-ray diraction is a gentle method which is well suited for conductive, recrystallized and flat bulk as well as delicate, non-conductive, deformed, and fine-grain specimens. Local texture of extremely deformed or fine-grain materials can be studied by SAD and RHEED pole- figure measurement in the TEM. Texture analysis on a grain-specific scale is performed by automated Kikuchi diraction (ACOM) in the SEM (“Automated EBSD”) and TEM. TEM investigations are indispensable when microstructural features have to be quantified such as Burgers vectors and deformation systems.

W minionej dekadzie nastapił zdecydowany postep w analizie tekstury, ale jak dotad brakuje uniwersalnej metody. Wybór metody badawczej zalezy od struktury ziaren próbki oraz od rodzaju oczekiwanych informacji. Standardowa technika analizy tekstury globalnej jest pomiar figur biegunowych technika dyfrakcji rentgenowskiej oraz obliczenia FRO. Znaczna poprawe szybkosci i dokładnosci analizy osiagnieto poprzez zastosowanie 2-wymiarowego detektora powierzchniowego. Rozszerzenie metody o pomiar tekstury lokalnej uzskano poprzez rozwój skanujacej aparatury rentgenowskiej. Dyfrakcja rentgenowska jest nieniszczaca metoda, która jest stosunkowo łatwa do zastosowania w przypadku płaskich próbek zrekrystalizowanych, nieprzewodzacych elektrycznosci, odkształconych oraz drobnoziarnistych. Tekstura lokalna materiału silnie odkształconego lub drobnoziarnistego może być badana poprzez pomiary figur biegunowych SAD oraz RHEED w TEM. Analiza tekstury w skali poszczególnych ziaren jest przeprowadzana poprzez zautomatyzowany pomiar dyfrakcji Kikuchi (ACOM) w SEM (zautomatyzowany EBSD) i TEM. Badania TEM sa niezastapione wtedy, gdy mikrostruktura musi byc scharakteryzowana takimi wielkosciami jak wektor Burgersa czy systemy deformacji.