Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: IEEE1149.1 test bus

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus

Czaja Z., Bartosiński B.

Przegląd Elektrotechniczny

2016

R. 92, nr 11

23--26

A new solution of the JTAG BIST for testing analog circuits in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a new fault diagnosis method in which an analog circuit is stimulated by a buffered signal from the TMS line, and the time response of the circuit to this signal is sampled by the ADC equipped with the JTAG. The method can be used for fault detection and single soft fault localization in an analog tested circuit (A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus).

Przedstawiono nowe rozwiązanie testera JTAG BIST przeznaczonego do testowania torów analogowych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej, w której tor analogowy pobudzany jest buforowanym sygnałem z linii TMS, a odpowiedź czasowa tego toru na ten sygnał jest próbkowana przez przetwornik A/C wyposażony w interfejs JTAG. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w analogowym układzie badanym.

Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1

Czaja Z., Bartosiński B.

Pomiary Automatyka Kontrola

2014

R. 60, nr 9

745--748

Przedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w pierwszej w kolejności uszkodzonej sekcji filtra.

A new solution of the JTAG BIST for self-testing of analog parts based on multi-section higher-order filters in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a fault diagnosis method based on transformation of voltage samples of the time responses of the next section of the filter on a square impulse into identification curves placed in a measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization of the first faulty section of the filter. Thanks to use of the proposed fault diagnosis method, there is no need for expanding the JTAG BIST by any additional components. It follows from the fact that the square pulse stimulating the tested circuit is set only at the input of the first section of the filter. The ADC SCANSTA476 samples two times the time responses at outputs of all sections. Thanks to this, the JTAG BIST needs only one pin of the BCT8244A, and up to 8 inputs pins connected to the analog multiplexer of the ADC of the SCANSTA476.