Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2008

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: IEEE 1174

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Mechanizmy komunikacji z uniwersalnym urządzeniem testującym

Łaskarzewski Z., Mocha J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 11

210-212

Praca zawiera opis mechanizmów komunikacji pomiędzy uniwersalnym urządzeniem testującym a komputerem pełniącym rolę kontrolera systemu. W pierwszej części pracy przedstawiono wymagania dotyczące interfejsu komunikacyjnego testera oraz analizę różnych łączy komunikacyjnych pod kątem zastosowania ich w systemie. W dalszej części przedstawiono przyjęty protokół wymiany komunikatów, a także opis komend SCPI zaimplementowanych w systemie. W końcowej części przedstawiono sposób implementowania testów, który wykorzystuje bibliotekę testów opakowującą komunikaty do testera w funkcje języka programowania wysokiego poziomu.

The paper contains the description of communication mechanisms between the universal in-circuit tester and the personal computer working as system controller. The requirements of tester communication interface and the analysis of the various communication links related with its usage in the system are presented in the first part. Message exchange protocol and SCPI commands implemented in system are described in futher part of this paper. The way of test implementing which uses tests library wrapping tester commands to high-level programming language is shown at the end of this paper.