Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: IEEE 1149.4

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących

Bartosiński B.

Przegląd Elektrotechniczny

2010

R. 86, nr 9

1-4

Przedstawiono magistrale testujące przeznaczone do diagnostyki cyfrowych i analogowych układów elektronicznych: IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla złożonych układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Zaprezentowano wyniki badań nad wykorzystaniem wyposażonych w magistralę IEEE 1149.4 układów SCANSTA400 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych. Badaniami objęto metody pomiaru rezystancji oraz metody pomiaru pojemności i indukcyjności o małym współczynniku stratności. Wykonane badania potwierdziły użyteczność układów SCANSTA400 wyposażonych w magistralę IEEE 1149.4 do wykrywania błędów produkcyjnych, bez konieczności użycia złożonych głowic ostrzowych. Zaprezentowano opracowany w ostatnich miesiącach standard magistrali dwuprzewodowej IEEE 1149.7 a także propozycje standardu IEEE P1581, IEEE 1149.8.1 oraz przedstawiono perspektywy i kierunki dalszego rozwoju magistral testujących.

A review is presented of testing buses designed for the diagnostics of digital and analog electronic circuits: the IEEE 1149.1 bus for digital circuits, the IEEE 1149.4 bus for mixed-signal circuits and the IEEE 1149.6 bus for AC coupled complex digital circuits. Diagnostics carried out with the use of the above-mentioned buses is possible at the integrated circuit, packet or system level. Results of tests on the use of SCANSTA400 devices equipped with the IEEE 1149.4 test bus for testing and fault identification in electronic circuits are also presented. The tests included two methods of resistance measurement and two methods of low-dissipation factor coefficient capacitance and inductance measurement with the use of the IEEE 1149.4 bus. For multielement RLC structures, a method is presented of element identification through the bus, using Tellegen’s Theorem. The tests which were carried out confirmed the usefulness of SCANSTA400 devices equipped with the IEEE 1149.4 bus for detection of shorts and opens in connections and for determination of the values of passive elements on electronic circuit boards, without the use of complex bed of nails. The advantages and disadvantages of the test buses are discussed and perspectives and directions of their further development for testing, programming and debugging presented.

Some methods of diagnosis of analog circuits using mixed signal test bu IEEE 1149.4

Bartosiński B., Toczek W.

Metrology and Measurement Systems

2003

Vol. 10, nr 2

157-172

The paper considers the problem of using the mixed signal test bus IEEE Std 1149.4 infrastructure for the diagnosis of analog PCB interconnects. Three types of interconnects between ICs are investigated: simple type T or [pi] structures, multi-element circuits and multistage circuits. Three diagnostic methods are proposed: a computer-aided analytical method based on Tellegen's theorem, a bilinear transformation method and oscillation-based method. The Matsushita Analog Boundary Test LSI MNABST-1 circuit equipped with the IEEE 1149.4 test bus was used in this research. The methodology of tests and some results of fault identification are presented.

W artykule przedstawiono wybrane metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych zamontowanych na pakiecie pomiędzy układami scalonymi wyposażonymi w magistralę IEEE 1149.4. Prezentowane metody dobrano pod kątem stopnia skomplikowania układów testowanych oraz specyficznych właściwości metrologicznych magistrali, które ograniczają możliwości pomiarowe i aplikacyjność metod. Rozważono trzy typy układów testowanych: proste struktury typu [pi] lub T, układy wieloelementowe oraz układy wielostopniowe, dla których zastosowano, odpowiednio, metodę wykorzystującą twierdzenie Tellegena, metodę transformacji biliniowej oraz metodę przekształcania w układy oscylujące. Wykorzystując twierdzenie Tellegena dokonano identyfikacji struktur typu [pi] i T bazując na niepełnych danych pomiarowych uzupełniając je wynikami symulacji komputerowej. Przedstawiono wyniki wdrożenia metody transformacji biliniowej z użyciem ubogiej dwuprzewodowej struktury szyny analogowej magistrali. Wykazano przydatność metody oscylacyjnej do testowania za pomocą magistrali, układów o strukturze wielostopniowej bez potrzeby stosowania źródła sygnału pomiarowego. Infrastruktura magistrali umożliwiła separację poszczególnych stopni układu, dostęp do ich wejść i wyjść oraz zamknięcie pętli sprzężenia zwrotnego. Omówione metody wdrożono wykorzystując wyposażony w magistralę układ testowy MNABST-1 firmy Matsushita. Przeprowadzone eksperymenty potwierdziły możliwość wykorzystania magistrali do realizacji funkcji komutacyjnych i organizacyjnych: dołączania zewnętrznego oprzyrządowania testu, zmiany warunków pracy układu na czas testowania, transformacji funkcjonalnej testowanego układu oraz zwiększenia obserwowalności układu wielostopniowego.