Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  IDD current monitoring
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
EN
The work presents an ASIC (Application Specific Integrated Circuit) CMOS cell for IDD current monitoring in VLSI circuits. The cell is to be used in estimation of dissipated power in high density power microstructures. It can be also useful in fault diagnosis in integrated VLSI circuits. The cell is intended to be placed along with a microstructure requiring cooling on the same piece of silicon and its main objective is to control an active heat sink. A design of the IDD current sensor, a physical layout as well as results of simulations are presented. Finally, the post-fabrication testing measurements are included.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.