Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2 Wawrzyniak M.

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: I-V curves

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Pomiary charakterystyki prądowo-napięciowej nanostruktur: błąd systematyczny spowodowany pojemnościami sond

Wawrzyniak M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 5

37-40

Zastosowanie oscyloskopu cyfrowego w pomiarach charakterystyki prądowo-napięciowej nanostruktur umożliwia pomiar charakterystyk w czasie < 1 µs. Przy tak krótkim czasie pomiarów w obwodzie pomiarowym, który ma charakter obwodu RC uwidaczniają się stany przejściowe. W artykule dokonano analizy wpływu pojemności sond oscyloskopu na mierzone sygnały i wyznaczaną charakterystykę prądowo-napięciową. Zaproponowano model, na podstawie którego wyprowadzono zależności teoretyczne umożliwiające określenie błędu systematycznego, przedstawionej metody pomiaru charakterystyki prądowo-napięciowej, spowodowanego wpływem pojemności sond. Ujawniony błąd systematyczny powodują nieliniowość charakterystyki prądowo-napięciowej, jej przesuwanie w odniesieniu do początku układu współrzędnych oraz rozciąganie zakresu, dla którego jest ona mierzona.

A digital oscilloscope used in I-V measurements of nanostructures, allows a reduction of measurement time to <1 µs. Such short measurement time, however, involves a sensible effect of transition states occurring in an experimental setup representing an RC circuit. We analyze the effect of probe capacitance on the signal reading and on the resulting I-V curves, and derive theoretical formulae for the probe capacitance-dependent systematic error on the basis of a model proposed for the discussed measurement method. The systematic error is evidenced by nonlinearity of the obtained current-voltage curve, its shift with respect to the origin of the coordinate system, and an extension of the measurement range.

System pomiarowy do wyznaczania charakterystyk prądowo-napięciowych nanodrutów

Wawrzyniak M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2006

Vol. 47, nr 5

39-41

Przedstawiono system pomiarowy do pomiaru przewodności elektrycznej nanodrutów metalowych podczas ich rozciągania. Nanodruty formowane są pomiędzy powierzchnią próbki metalu i wierzchołkiem metalowej igły. Prezentowany system umożliwia pomiar i wyznaczanie charakterystyk prądowo-napięciowych nanodrutów dla zadanej wartości przewodności nanodrutu. Podano wyniki pomiarów i obliczeń potwierdzające poprawność działania systemu pomiarowego.

This paper presents an experimental setup for measuring the electrical conductance through nanowires during elongation. Nanowires are formed between a metal sample and the tip. We demonstrate how the setup can be used to capture the I-V curves of nanowires. Moreover, it is presented examples of I-V curves which confirm the validity of the proposed method and that the measurement system works well.