Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Kompensacja dryfu w skaningowym mikroskopie tunelowym przeznaczonym do badań nanostruktur grafenowych FoMaMet

Gajewski K., Kramek R., Kopiec D., Gotszalk T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2014

|

Vol. 55, nr 10

19-22

PL

W pracy przedstawiono problem dryfu występującego w skaningowym mikroskopie tunelowym (STM). Dryf ten występuje w osiach X, Y oraz Z. Na przykładzie pomiarów wysokozorientowanego grafitu pyrolitycznego omówiono jego wpływ na pracę mikroskopu, oraz możliwe zakłócenia procedury pomiarowej. Zaproponowano modyfikację konstrukcji mikroskopu STM tak, aby negatywny wpływ dryfu w osi Z uległ minimalizacji. W tym celu wykonano i zaprezentowano konstrukcję precyzyjnego układu elektronicznego z precyzyjnym przetwornikiem cyfrowo-analogowym i porównano go z dostępnym rozwiązaniem komercyjnym. Przedstawiono również możliwości rozszerzenia opracowanego systemu.

EN

In this work drift issues appearing in scanning tunneling microscope (STM) was discussed. This drift appears in X, Y and Z axis. Based on measurements of the highly oriented pyrolytic graphite its influence on the work of the microscope and possible disturbances of the measurement procedure was described. Modification of the construction of the STM microscope minimizing the negative impact of the drift in Z axis was proposed. To do that a precise electronic circuit based on precise digital-to-analog converter was developed and it was compared with available commercial solution. At the end possibilities of the expansion of the realized system was shown.

2

Skaningowy mikroskop tunelowy do badań nanostruktur grafenowych

Gajewski K., Kopiec D., Rudek M., Zawierucha P., Zielony M., Moczała M., Wielgoszewski G., Strupiński W., Gotszalk T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2013

|

Vol. 54, nr 6

14-18

PL

W poniższej pracy opisano zasadę działania i konstrukcję skaningowego mikroskopu tunelowego przeznaczonego do badań nanostruktur grafenowych. Mikroskop ten pracuje pod ciśnieniem atmosferycznym w temperaturze pokojowej. Omówiono podstawowe tryby pracy tego mikroskopu: do obrazowania powierzchni z atomową rozdzielczością oraz do obrazowania potencjałów powierzchniowych. Opisano poszczególne elementy, z których składa się system. W dalszej części pracy przedstawiono wyniki niektórych badań w których wykorzystano ten mikroskop – w badaniach wysoko zorientowanego grafitu pirolitycznego i grafenu na podłożu 6H-SiC. Przedstawiono również możliwości rozbudowy opracowanego systemu.

EN

In this paper we present principles and construction of scanning tunneling microscope designed for graphene nanostructures investigations. This microscope is working under ambient air in room temperature. Basic modes of this microscope were described: for atomic scale surface imaging and for imaging surface potentials. The main components of this system were shown. Some results obtained with use of this microscope were noted – highly oriented pyrolytic graphite and graphene on 6H-SiC substrate investigations. Additionally, the capabilities of the system improvement were pointed out.

3

Wykorzystanie mikroskopu sił atomowych w trybie stałego prądu do badania materiałów przewodzących i tlenkowych

Gajewski K., Gotszalk T., Wielgoszewski G.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2011

|

Vol. 52, nr 10

104-106

PL

W artykule przedstawiono mikroskop sił atomowych z przewodzącą sondą, pracujący w trybie stałego prądu. Od klasycznego rozwiązania różni się tym, że napięcie polaryzujące nie jest stale, ale jest za pomocą regulatora proporcjonalno-całkująco-różniczkującego (PID) dopasowywane tak, aby prąd płynący przez ostrze miał stałą wartość. Umożliwia to uniknięcie uszkodzeń powierzchni próbki i ostrza, wynikających z przepływu prądu o zbyt dużym natężeniu. W uzupełnieniu do opisu metody pomiarowej zaprezentowana została konstrukcja przetwornika prądnapięcie o pikoamperowej czułości, niezbędnego do pomiarów właściwości warstw z materiałów dielektrycznych, docelowego obiektu badań przedstawionego mikroskopu. Przedstawione są również wyniki pomiarów, uzyskane w trybie stałego prądu na powierzchni wysoko zorientowanego grafitu pirolitycznego.

EN

In the paper a constant-current conductive atomie force microscope (CC-CAFM) is introduced. In this set-up the applied polarization voltage is not constant, as in a standard conductive AFM, but is set by a proportional-integral-derivative controller, which maintains the tip current constant. Such a solution prevents surface modification and tip wear, which may oceur as a result of too high current. In addition to the description of the set-up, construetion of a current-to-voltage converter of picoampere sensitivity is presented. The device is needed for investigation of dielectric films' properties, which are goal experiments to be conducted using the presented CC-CAFM. Results of experiments on a highly oriented pyrolytic graphite are also presented.