Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 2013

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: Geffe generator

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

TPG and SA with low power consumption

Puczko M.

Pomiary Automatyka Kontrola

2013

R. 59, nr 10

1040--1045

In this paper new solutions for reducing a switching activity of BIST environment for the scan-organized BIST architectures are presented. Several approaches of low power BIST have been proposed. In [1], the author presents a test scheduling approach that takes into consideration the power consumption. For general BIST structure a new test pattern generator is proposed in [2]. There is a set of solutions to eliminate useless pseudo random patterns during the test mode [3-5]. The paper is organized as follows. In Section 2 the power consumption issue and weighted switching activity modeling are investigated. Section 3 presents switching activity of basic logic structures. In Section 4 a new technique is proposed. Section 5 shows the multi-input modulo 2 adder with low power consumption. In Section 6 modified structures of TPG and SA are presented. Section 7 shows two-pattern testing and Section 8 cryptographic key generation with low power consumption. Sections 9-11 include hardware verification of the presented solutions. Section 12 is the summary.

Pobór mocy w systemach cyfrowych może znacząco wzrosnąć podczas procesu testowania. Niniejsza publikacja opisuje metodę, dzięki której może zostać zmniejszone zużycie energii w układach cyfrowych podczas testowania BIST (ang. Built-In Self-Testing). Niniejsze rozwiązanie zostało opracowane w oparciu o standardową strukturę rejestru przesuwającego z liniowym sprzężeniem zwrotnym LFSR(ang. Linear Feedback Shift Register). Weryfikacja sprzętowa pokazuje, iż pobór mocy został zmniejszony o około 50% w porównaniu ze strukturą klasyczną. Zaproponowane rozwiązanie zweryfikowano sprzętowo w generatorze testów TPG (ang. Test Pattern Generator), analizatorze sygnatur SA (ang. Signature Analyzer), generatorze par wektorów testowych oraz zmodyfikowanym generatorze Geffe’go. Zawartość artykułu jest następująca. W części 2. opisano podstawowe definicje związane z poborem mocy w BIST. W części 3. przedstawiono sposób obliczania aktywności przełączeń podstawowych struktur logicznych. W części 4. pokazano wpływ sposobu projektowania układu na jego aktywność przełączeń. Część 5. zawiera metodę projektowania wielowejściowego sumatora modulo 2 o minimalnej aktywności przełączeń. Zmniejszenie poboru mocy w generatorach testów i analizatorach sygnatur wykorzystywanych w BIST zostało zaprezentowane w części 6., natomiast obniżenie poboru mocy podczas testowania układów cyfrowych z wykorzystaniem par wektorów testowych w części 7. Część 8. to obniżenie poboru mocy podczas testowania układów cyfrowych z wykorzystaniem par wektorów testowych. Rozdziały 9–11 zawierają weryfikację sprzętową zaprezentowanych metod i algorytmów. Podsumowanie zawiera część 12.

Poisson pulse sequence generators based upon modified Geffe generators

Maksymovych V., Kostiv Y., Harasymchuk O.

Czasopismo Techniczne. Automatyka

2013

R. 110, z. 3-AC

17--28

The article presents principles of optimizing the parameters of structural elements Geffe generator. The quality of this optimization is confirmed by statistical tests package NIST STS. The article provides methodology for research into the settings of the output signals of the Poisson pulse sequence generators using Pearson’s chi-squared test.

W artykule zawarto zasady optymalizacji parametrów elementów strukturalnych generatora Geffego. Jakość optymalizacji została potwierdzona za pomocą pakietu testów statystycznych NIST STS. Przedstawiono metodykę badania parametrów wyjściowych sygnałów generatorów kolejności impulsów Poissona z zastosowaniem zmodyfikowanego kryterium Pearsona.