Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2005

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: GUM przewodnik do wyrażania niepewności w pomiarach

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Measurement uncertainty and MEMS

Weckenmann A., Wiedenhoefer T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2005

Vol. 46, nr 10

51-53

To ensure interchangeability and make bulk production viable for MEMS, measurement uncertainty has to be taken into account. In Micro- and Nanometrology there still is a lack of models and procedures on how to analyze and interpret the tasks and influences. Additionally, the basic mechanisms currently known are insufficiently examined. The presentation will highlight problems and obstacles specific for determining measurement uncertainty in this field.

W celu zapewnienia zamienności wymiarowej i umożliwienia masowej produkcji MEMS, trzeba wziąć pod uwagę niepewność pomiaru. W mikro-i nanotechnologii wciąż brak jest modeli oraz procedur analizy i interpretacji zadań i wpływów. Ponadto znane dziś podstawowe mechanizmy są niewystarczająco przebadane. Artykuł uwypukla specyficzne problemy i przeszkody przy określaniu niepewności pomiaru w tym obszarze.