Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  Fourier transform profilometry
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
A method for probing refractive index changes in photorefractive crystals using an interferometric technique and digital image processing was proposed. Based on equal thickness interference in LiNbO3 crystal and Fourier transform profilometry, we obtained phase value changes in interferograms induced by a photorefractive effect, and further calculated refractive index changes. The maximal values for extraordinary light (e-light) and ordinary light (o-light) are 6.6×10–4 and 1.2×10–4, respectively.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.