PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  Fan-in
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Technologia testowania pakietów WLCSP
Dąbrowiecki Krzysztof
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2021
|
Vol. 62, nr 2
25--29
PL
W artykule przedstawiono rozwiązania kart do testowania pakietów WLCSP. Przeanalizowano wymagania testowe pakietów WLCSP i omówiono testy weryfikujące karty testowe wykorzystujące w głowicach mikrokontaktory sprężynkowe. Przedstawiono wybrane testy niezawodności kart testowych.
EN
The article presents probe card solutions for testing of the WLCSP packages. The test requirements were presented and the spring pin probe cards were discussed. Selected reliability tests of the probe cards were described.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.