Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Polimery

1 2001

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: FT-IR ATR spectra

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zastosowanie metody FT-IR i pomiaru twardości metodą nanoindentacji do badania przebiegu fotosieciowania żywicy poliestrowej

Bieliński D., Głąb P., Ślusarski L.

Polimery

2001

T. 46, nr 7-8

494-500

Postęp reakcji fotosieciowania w cienkiej warstwie (1,0-3,5 (-im) żywicy poliestrowej (PES) zbadano metodami FT-IR i pomiaru twardości (nanoindentacja). Zgodnie z oczekiwaniami stwierdzono zależność twardości powłoki od czasu naświetlania (rys. 3). Metodą FT-IR potwierdzono, że sieciowanie żywicy zachodzi według mechanizmu polegającego na kopolimeryzacji oligoestru ze styrenem. Otrzymano bardzo dobrą korelację pomiędzy wynikami spektroskopowymi (FT-IR) a uzyskanymi na podstawie nanoindentacji (rys. 5). Wskazano na istnienie powierzchniowego gradientu usieciowania, niemożliwego do zbadania konwencjonalnymi metodami pomiaru twardości; gradient ten może mieć daleko idące konsekwencje z punktu widzenia trwałości materiałów i powłok polimerowych.

Photocuring of a polyester resin layer 1.0-3.5 |am thick was followed in terms of FT-IR ATR spectroscopy and nanoindentation measurements. The hardness of the coating was reaffirmed to be related to exposure time (Fig. 3). FT-IR spectra showed the photocuring of the resin to follow the mechanism involving copolymerization of an oligoester with styrene (Fig. 4). FT-IR data were found to be well correlated (R2 > 0.95) with nanoindentation data (Fig. 5). The curing degree disclosed a surface gradient (Fig. 3a), impossible to detect by conventional hardness measurements. This gradient continued to be maintained in the course of the curing reaction, a fact of possible consequence for polymer coating durability. By being focused on surface layer features, the nanoindentation technique provides valuable data that so far were underestimated by polymer technology.