Celem pracy było opracowanie metodyki badań składu chemicznego i fazowego oraz struktury warstw wierzchnich i powłok metodami wysokorozdzielczej mikroskopii skaningowej z wykorzystaniem detektorów EDS i WDS. W ramach badań opracowano metodykę, którą następnie zweryfikowano w badaniach warstw naniesionych metodami PVD.
EN
The purpose of the work was to develop methodology for investigations of chemical and phase composition and structure of surface layers and coatings by high-resolution scanning microscopy methods using EDS and WDS detectors. As a part of the investigations, the methodology was developed and then verified in examinations of the layers applied by PVD methods.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.