Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  Cu/Ni multilayer systems
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
The paper presents research results of multilayer systems composed of alternate Cu/Ni layers. The layers thickness obtained by the galvanic treatment was determined by using the transmission electron microscopy and X-ray diffraction method in the grazing incidence diffraction geometry. The surface morphology was observed using scanning electron microscope with EDS microanalysis. Observation of the surface topography of systems using the atomic force microscope was also carried out.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.