This paper was introduced the author's program to the analysis of the shape of XRD reflexes. The analysis was subjected results fittings of numerical models to data got during measurements. The method of the smallest squares of mistakes was used in the analysis of the fitting. The written application lets describe peak using one from popular functions. Parameters of the diffractive reflex appointed with the program let determine lattice parameters, volumetric phase participation and determine the quantity of crystallites and network distortions.
PL
W artykule przedstawiono autorski program do analizy kształtu refleksów XRD. Przeanalizowano wyniki dopasowania modeli numerycznych do wyników uzyskanych podczas pomiarów rzeczywistych. W analizie dopasowania wykorzystano metodę najmniejszych kwadratów błędów. Aplikacja pozwoliła opisać pik za pomocą jednej z dostępnych funkcji. Wyznaczone za pomocą programu parametry refleksu dyfrakcyjnego pozwalają na określenie parametrów sieciowych, objętościowych udziałów fazowych oraz wyznaczenie wielkości krystalitów i zniekształceń sieciowych.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.