Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: Benloc32 fault locator

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wymagania stawiane lokalizatorom impedancyjnym oraz funkcje w nich dostępne na przykładzie lokalizatora Benloc32

Smolarczyk A.

Automatyka Elektroenergetyczna

2008

Nr 2 (59)

10-15

W artykule opisano wymagania stawiane nowoczesnym impedancyjnym lokalizatorom miejsca zwarcia wykorzystującym do swego działania sygnały z jednego końca linii, do których należą: proste nastawianie, proste użycie, elastyczność, dokładność pomiaru. Przykładowo, opisano cechy i sposób konfigurowania nowoczesnego lokalizatora Benloc32, w jaki wyposażany jest rejestrator zakłóceń typu BEN 6000. Artykuł recenzowany.

The submitted paper contains a description of requirements for single-ended impedance-based fault locators. There are: easiness to setup, easiness to use, robustness and accuracy. Some of the main features and configuration of the modern Benloc 32 fault locator implemented in BEN 6000 digital fault recorder are included.

Sposoby badania nowoczesnych impedancyjnych lokalizatorów miejsca zwarcia na przykładzie lokalizatora Benloc32

Smolarczyk A.

Automatyka Elektroenergetyczna

2008

Nr 3 (60)

16-22

W opracowaniu opisano przyczyny błędnego działania impedancyjnych lokalizatorów miejsca zwarcia wykorzystujących do swej pracy sygnały z jednego końca linii oraz przedstawiono metody ich badania. Badania te podzielono na funkcjonalne testy zgodności i funkcjonalne testy działania. Zaproponowano uniwersalny układ testowy do wykonywania testów funkcjonalnych lokalizatorów. Przedstawiono przykładowe wyniki przeprowadzonych badań lokalizatora typu Benloc32.

The submitted paper contains a description of the main causes of improper work of a single-ended impedance-based fault locator and the testing methods to be used. Tests are divided into two categories – functional conformance tests and functional performance tests. An universal scheme for functional test conduction is proposed. A few results of the Benloc32 fault locator tests are also included in the last section.