PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  BSDF function
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Badanie chropowatości powierzchni gładkich za pomocą skaterometru kątowego. Cz. 1, Metoda pomiaru : przyrząd pomiarowy
Pawlata A.
Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
|
2015
|
Vol. 64, nr 1
47-58
PL
W artykule opisano podstawowe parametry chropowatości powierzchni. Przedstawiono metodę obliczenia tych parametrów dla powierzchni gładkich na podstawie pomiaru funkcji BSDF charakteryzującej rozproszenie z badanej powierzchni. Opisano zbudowany w IOE WAT zautomatyzowany skaterometr kątowy służący do pomiaru powyższych parametrów.
EN
The basic parameters of surface roughness are described in this article. The method of calculation of these parameters from measurement of BSDF function characterizing scatter from surface is shown. Automated angle scatterometer, built at the Institute of Optoelectronics of the Military University of Technology (IOE MUT), used for measurements of above parameters is described.
2
Content available Badanie chropowatości powierzchni gładkich za pomocą skaterometru kątowego. Cz. 2, Metodyka pomiaru : wyniki pomiarowe wybranych powierzchni
Pawlata A.
Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
|
2015
|
Vol. 64, nr 1
59-78
PL
W artykule opisano metodykę pomiaru parametrów chropowatości powierzchni za pomocą zbudowanego w IOE WAT zautomatyzowanego skaterometru kątowego. Zaprezentowano wyniki pomiarowe dla trzech wybranych polerowanych powierzchni: z krzemu, z germanu oraz ze stali nierdzewnej. Przedstawiono badania porównawcze wykonane za pomocą scatteroscope SCAT-4. Oszacowano powtarzalność pomiaru i zakres pomiarowy dla skaterometru kątowego.
EN
The experimental procedure for measurements of smooth surface roughness parameters using automated angle scatterometer, built at the Institute of Optoelectronics (IOE), is described. The results of measurements and their analysis for three chosen polished surfaces: silicon, germanium, and stainless steel are presented. The comparative investigations using scatteroscope SCAT-4 are performed. The repeatability and measurement range for built at IOEangle scatterometer is estimated.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.