Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: BIST built-in-self test

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wykorzystanie testów symetrycznych w transparentnym testowaniu pamięci RAM

Mrozek I.

Logistyka

2012

nr 3

Artykuł przedstawia strategię testowania pamięci wykorzystywaną w technice BIST opartą o symetryczne testy pamięci. Technika symetrycznych testów pamięci gwarantuje, iż proces testowania odbywa się w niezwykle efektywny i szybki sposób. Jej wykorzystanie pozwala zmniejszyć złożoność procesu testowania o około 30% w porównaniu ze standardową metodą testowania transparentnego opartą o sygnaturę odniesienia. Fakt ten ma niezwykle istotne znaczenie jeśli weźmie się pod uwagę bieżące i przyszłe rozmiary uzywanych pamięci.

Computer systems play a significant role almost in each area of life. Therefore we have to ensure their correct working. One of the most important components of each computer system is its memory. So, it is very important to identify a memory fault as soon as it occurs. Memory fault can take place at any time. Therefore we have to test the memory while booting system and periodical when the computer system is in use. In the first case (sometimes in the second case too) we can use a non-transparent memory test, in second case we should use transparent memory test. In this paper we would like to present symmetric version of transparent memory tests which allow us to reduce about 30% the time of the process of memory testing in comparing with the standard non symmetric methods.