Druga część artykułu przedstawia znaczenie siły styku w kartach testowych, których mechanizm działania oparty jest na koncepcji wyboczenia belki (buckling beam). Zaprezentowano właściwości materiałów używanych do wytwarzania mikrokontaktorów (μkontaktorów). Omówiono przykłady innowacyjnych rozwiązań kart testowych i rosnące wyzwania stojące przed projektantami.
EN
The second part of the article presents the importance of the contact force in vertical probe cards based on the concept of buckling beam. Material properties used in the production of probes are presented. Examples of innovative probe card solutions and growing challenges faced by designers are discussed.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.