Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Zeszyty Naukowe Politechniki Świętokrzyskiej. Elektryka

1 2005

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: Automatic Test Pattern Generation

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Systemy ATPG - stan obecny i perspektywy rozwoju

Wiśniewski M., Sapiecha K.

Zeszyty Naukowe Politechniki Świętokrzyskiej. Elektryka

2005

Z. 43

231-236

Wraz z rozwojem technologii syntezy układów cyfrowych wzrosło zapotrzebowanie na skuteczne i szybkie systemy ATPG (Automatic Test Pattern Generation). Na wczesnych etapach projektowania niezbędne są systemy ATPG dostosowane do poziomu wirtualnego prototypu układu, specyfikowanego zazwyczaj w VHDL-u. Na etapie implementacji potrzebne są systemy ATPG dostosowane do poziomu bramkowego układu. Powstaje pytanie, jaka jest praktyczna przydatność oraz perspektywy rozwoju tych systemów? W artykule podjęto próbę odpowiedzi na to pytanie.

New design technologies make possible to create digital systems as complex as never before. By that reason fast and efficient ATPG systems are requested. It's necessary to use ATPG utilities adjusted for virtual prototype (usualy described by VHDL) at early stages of designing process. Implementation demands ATPG systems suitable for gate level of chip. There is a question if that systems are really useful. In this paper we are trying to answer that question.