Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  ATE
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote VSLAM analysis using various ORBSLAM parameters setting
EN
SLAM or simultaneous localization and mapping system, is a system that determines the orientation and position of a robot by creating a detailed map of the environment while simultaneously tracking where the robot is within the environment. This project aims to use the camera as SLAM primary sensor to replace the LiDAR sensor frequently used in autonomous robots. ORBSLAM is used as the main algorithm, and a few settings are being adjusted to get the most accurate results. The Absolute Trajectory Error and Relative Pose Error are used to evaluate the algorithm's accuracy. After the most optimized setting is found, the setting is used for real-time mapping in an unknown environment.
PL
SLAM lub system jednoczesnej lokalizacji i mapowania, to system, który określa orientację i pozycję robota, tworząc szczegółową mapę otoczenia, jednocześnie śledząc, gdzie robot znajduje się w środowisku. Celem tego projektu jest wykorzystanie kamery jako głównego czujnika SLAM, który zastąpi czujnik LiDAR często używany w autonomicznych robotach. ORBSLAM jest używany jako główny algorytm, a kilka ustawień jest dostosowywanych, aby uzyskać jak najdokładniejsze wyniki. Bezwzględny błąd trajektorii i względny błąd pozycji służą do oceny dokładności algorytmu. Po znalezieniu najbardziej zoptymalizowanego ustawienia jest ono używane do mapowania w czasie rzeczywistym w nieznanym środowisku.
PL
Standardy łączności bezprzewodowej technologii 5G niosą ze sobą wiele nowych wyzwań testowania, zwłaszcza w przypadku technologii pakietów budowanych na płytkach krzemowych (WLCSP – Wafer Level Chip Scale Package). WLCSP jest bardzo udaną technologią dla urządzeń przenośnych w zakresie niskich częstotliwości, poniżej 6 GHz. Aby podjąć właściwe decyzje na wczesnych etapach projektowania karty do testowania chipów w wysokich częstotliwościach, powyżej 24 GHz (mmWave), nieunikniona jest symulacja elektromagnetyczna (EM) modelu karty testowej. Kluczowe znaczenie ma zrozumienie zależności i relacji między wieloma oddziałującymi elementami karty testowej, takimi jak głowica karty, płytka drukowana czy złącza koncentryczne osprzętu ATE. W artykule opisano niektóre z tych wyzwań oraz przedstawiono doświadczenia autora w modelowaniu i ewaluacji sprężynkowych kart testowych dla częstotliwości 5G mmWave.
EN
5G wireless connectivity standards bring many new testing challenges, especially for Wafer Level Chip Scale Package (WLCSP) technology. WLCSP is a very successful technology for handheld and portable products in the low frequency range, below 6 GHz. To make the right decisions in the early stages of probe card design for the mmWave frequencies wafer test, an electromagnetic (EM) simulation of the probe card performance is inevitable. It is essential to understand the relationships between the many interacting probe card parts such as probe head, PCB and ATE hardware coaxial connectors. The article describes some of these challenges and presents the author’s experience in modeling and evaluating pogo pins probe cards for 5G mmWave frequencies.
3
PL
W artykule omówiono sposób działania aplikacji, funkcjonalność systemu, a także przeznaczenie uniwersalnego systemu testującego. Omówiono warstwową architekturę komunikacji pomiędzy częścią sprzętową uniwersalnego stanowiska testującego, aplikacją sterującą oraz systemem bazodanowym i wynikające z takiego podejścia zalety. Przedstawiono nowatorski sposób definiowania logiki testu w postaci wtyczek (ang. plug-in) w połączeniu z parametrami zdefiniowanymi w bazie danych.
EN
The paper presents a universal testing system and its communication mechanisms. The system is dedicated for electronic device testing and configuration during final stage of manufacturing. The system construction was designed for quality control, efficient work, easy self-diagnostics, economic new device types deploying. The introduction contains reference to other systems and popular methods of electronic device testing [1, 2]. In the next section the system architecture [3] is discussed. An easy in-circuit testing method based on the specially prepared testing program loaded to a microcontroller of the tested device is applied in the system. The testing system structure is shown in Fig. 1. The third section contains the description of tester functionality [4] and the block diagram of the testing system hardware part (Fig. 2). The next section presents the tiered architecture of communication between the tester and control application (Fig. 3), SCPI based communication protocol [6], command exchange mechanisms between control application, tester and database server in command flow diagram (Fig. 4) and aspects of test logic design. Start of testing process is connected with loading the plug-in library with test logic definition. The users of the system do not have to be skilled and experienced, since the system is easy to apply and the test design process is rapid. The presented system functionality is sufficient for testing electronic devices and makes it possible to detect many potential damages.
PL
Praca zawiera opis mechanizmów komunikacji pomiędzy uniwersalnym urządzeniem testującym a komputerem pełniącym rolę kontrolera systemu. W pierwszej części pracy przedstawiono wymagania dotyczące interfejsu komunikacyjnego testera oraz analizę różnych łączy komunikacyjnych pod kątem zastosowania ich w systemie. W dalszej części przedstawiono przyjęty protokół wymiany komunikatów, a także opis komend SCPI zaimplementowanych w systemie. W końcowej części przedstawiono sposób implementowania testów, który wykorzystuje bibliotekę testów opakowującą komunikaty do testera w funkcje języka programowania wysokiego poziomu.
EN
The paper contains the description of communication mechanisms between the universal in-circuit tester and the personal computer working as system controller. The requirements of tester communication interface and the analysis of the various communication links related with its usage in the system are presented in the first part. Message exchange protocol and SCPI commands implemented in system are described in futher part of this paper. The way of test implementing which uses tests library wrapping tester commands to high-level programming language is shown at the end of this paper.
PL
W pracy przedstawiono budowę sprzętową uniwersalnego stanowiska testującego, przeznaczonego do końcowych elektrycznych testów urządzeń elektronicznych opuszczających linię produkcyjną. Na wstępie przedstawiono pokrótce metodykę testowania elektrycznego (testowanie funkcjonalne, ICT, kombinowane) oraz założenia projektowe, jakie musi spełniać zaprojektowana część sprzętowa testera. W dalszej części pracy przedstawiono architekturę testera, wraz z opisem budowy jego poszczególnych bloków oraz opisem zaprojektowanego obwodu drukowanego. Przedstawiona część sprzętowa stanowiska testującego jest zasadniczym elementem całego systemu, którym steruje oprogramowanie uruchamiane na komputerze PC. Do komunikacji pomiędzy testerem, a oprogramowaniem sterującym wykorzystana została sieć Ethernet oraz protokół TCP/IP.
EN
The paper describes construction of the universal in-circuit tester. It is dedicated for final testing of electronic devices after manufacturing. There are presented basic methodologies of electrical tests (functional testing, in-circuit testing, mixed). There are also given design requirements for the tester and its architecture in detail including description of each functional block and the PCB design. Presented tester is the fundamental component of the testing system. It works under control of a program running on a PC. The tester uses the Ethernet network and the TCP/IP protocol for control and data transmission.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.