Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Czaja Z.

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: ADCs

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A

Czaja Z.

Pomiary Automatyka Kontrola

2013

R. 59, nr 4

368--371

Przedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikrokontrolera. Licznik mikrokontrolera ustala czas trwania impulsu oraz momenty próbkowania.

A measurement microsystem based on hardware resources of the ATXmega32A4 microcontroller working as a BIST (Built-in Self Tester) used for self-testing of analog parts of embedded electronic systems is presented in the paper. Self-testing is based on the fault method [5], in which a tested analog part is stimulated by a single square pulse and its time response is sampled K times (K = 3) by the ADC (Analog to Digital Converter) (Fig. 1). A microcontroller timer determines the duration time of the square pulse and sets the sample moments of the ADC. The self-testing approach consists of: the pre-testing stage of fault dictionary creation (the fault dictionary has the form of a family of identification curves (Fig. 2)), the measurement procedure and the fault classification procedure. The proposed BIST consists of one timer working in the Compare Mode, an event system and a 12-bit ADC of the microcontroller (Fig. 3). The events generated by channels CHA, CHB and CHC compare matches of the timer are routed via the event system to the ADC (Fig. 7). They trigger measurements on three ADC channels CH0, CH1 and CH2 adequately (Fig. 4). The channel CHD compare match event is used to set up the duration time of the stimulant pulse. The BIST works according to the measurement procedure whose timing is shown in Fig. 5 and the algorithm in Fig. 6. The main advantages of the presented solution are better BIST parameters and the simpler measurement algorithm in comparison to the previous solutions [5-7].

Wykorzystanie przetworników A/C wbudowanych w mikrokontrolery do pomiarów parametrów sygnałów zmiennych

Czaja Z.

Przegląd Elektrotechniczny

2010

R. 86, nr 9

5-8

W artykule przedstawiono nową metodę pomiaru parametrów przebiegów sinusoidalnych, takich jak okres, amplituda i napięcie offsetu, opracowaną dla elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Ideą metody jest utworzenie z wewnętrznych pomiarowych urządzeń peryferyjnych mikrokontrolera (liczników, przetworników A/C i komparatorów analogowych) rekonfigurowanych mikrosystemów pomiarowych cechujących się dużą elastycznością konfiguracyjną i niskim kosztem aplikacji. Przeprowadzono również ocenę niepewności pomiaru napięcia zaproponowaną metodą. Jej wyniki określają rozdzielczość i niepewność pomiaru napięć oraz dozwolone pasmo częstotliwości sygnałów mierzonych dla zaproponowanej metody.

A new method of sinusoidal signal parameter measurements (the period, the amplitude and the offset voltage) elaborated for electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented in the paper. The idea of the method bases on using internal measurement peripheral devices of microcontrollers (timers/counters, analog to digital converters (ADCs) and analog comparators) to create reconfigurable measurement microsystems. A 16-bit timer controlled by an analog comparator is used to determine the signal period, and a 10-bit ADC triggered by the 16-bit timer measures three voltage samples which are used to calculations of the signal amplitude and the offset voltage. These microsystems are configuration-flexible and projected for low-cost applications. An estimation of the voltage measurement uncertainty for the method was made. The results describes the resolution and the uncertainty of voltage measurements and also the permissible range of frequencies of measured signals. Thanks to these results, it is possible to estimate the usefulness of the method for a given application.