Przedstawiono wpływ zmiany wielkości pola pomiarowego w układzie X, Y na wielkość parametrów stereometrycznych charakteryzujących strukturę geometryczną powierzchni. W tym celu dokonano pomiaru pól pomiarowych na powierzchni próbek nagniatanych przy użyciu profilografometru New Form Talysurf 2D/3D 120 firmy Taylor Hobson. Do analizy podstawowych parametrów topografii powierzchni w układzie 2D i 3D wykorzystano program TalyMap Platinum 5.1.1.
EN
The effect of variation in the size of the measurement field in the X, Y system on the magnitude of stereometic parameters characterizing the surface texture is presented. For this purpose, the measurement fields were measured on the surface of burnished specimens using a New Form Talysurf 2D/3D 120 profilographometer supplied by Taylor Hobson. For the analysis of the basic surface texture parameters in the 2D and 3D systems, the TalyMap Platinum 5.1.1 software application was employed.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.